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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
德國卡爾德意志（KARL DEUTSCH）KD LEPTOSKOP2042涂層測厚儀
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀具有精準(zhǔn)的測量技術(shù)和簡單的操作方法，是*的涂層測厚儀。通過解鎖代碼，可以使儀器在現(xiàn)場迅速的升級(jí)。
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀 利用磁感應(yīng)法（DIN EN ISO 2178）測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法（DIN EN ISO 2360）測量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。
儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合，同時(shí)提供10種可供任意選擇的語言，以滿足客戶的各種需求。
LEPTOSKOP2042涂層測厚儀是一種經(jīng)濟(jì)的產(chǎn)品，電池壽命長，可以連續(xù)工作100小時(shí)以上。儀器記錄工作時(shí)間和測量數(shù)量，因此一些重要的參數(shù)可以被保存。
彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi)，可以保護(hù)儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。
特點(diǎn)概述：
◆ 大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈
◆ 校準(zhǔn)選項(xiàng)
◆ 出廠時(shí)已校準(zhǔn)，立即可用
◆ 在未知涂層上校準(zhǔn)*
◆ 零校準(zhǔn)*
◆ 在無涂層的基體上一點(diǎn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)*
◆ 在有涂層的基體上校準(zhǔn)*
◆ 校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以別單獨(dú)存儲(chǔ)在獨(dú)立的校準(zhǔn)檔案中，也可以隨時(shí)調(diào)出
◆ 可選擇的顯示模式，以*形式去完成測量任務(wù)*
◆ 輸入和極限監(jiān)視*
◆ 在Windows下有簡單的存儲(chǔ)讀數(shù)檔案管理*
◆ 可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport
◆ 統(tǒng)計(jì)*
◆ 可統(tǒng)計(jì)評估999個(gè)讀數(shù)
◆ zui小值、zui大值、測量個(gè)數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)偏差和極限監(jiān)視
◆ 局部厚度和平局膜層厚度（DIN EN ISO 2808）
◆ 在線統(tǒng)計(jì)，所有統(tǒng)計(jì)值概括
技術(shù)資料：
◆ 數(shù)據(jù)傳輸接口RS232 或 USB
◆ 電源：電池、充電電池、USB或外接電源
◆ 測量范圍: 0 - 20000 um （取決于探頭）
◆ 測量速度: 每秒測量２個(gè)數(shù)值
◆ 存儲(chǔ): zui多 9999 個(gè)數(shù)值，140個(gè)文件
◆ 誤差:
◆ 涂層厚度 < 100 祄: 1 % 的數(shù)值 +/- 1 祄 （校準(zhǔn)后）
◆ 涂層厚度 > 100 祄: 1..3 % 的數(shù)值 +/- 1 祄
◆ 涂層厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的數(shù)值 +/- 10 祄
◆ 涂層厚度 > 10000 祄: 5 % 的數(shù)值 +/- 100 祄
| 普通型 |
| 鐵基膜層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)套 | 2042F |
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| 非鐵基膜層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)套 | 2042NF |
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| 鐵基/非鐵基膜層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)套 | 2042 |
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| 數(shù)據(jù)型 | 鐵基 | 2042 Fe set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計(jì)模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 EasyExport軟件，操作手冊，質(zhì)量認(rèn)證書，儀器箱 | 2042 EF |
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| 2042 Fe Data Set ----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計(jì)和資料模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件，操作手冊，質(zhì)量認(rèn)證書，儀器箱 | 2042DF |
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| 非鐵基 | 2042 NFe set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計(jì)模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 EasyExport軟件，操作手冊，質(zhì)量認(rèn)證書，儀器箱 | 2042ENF |
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| 2042 NFe Data Set ----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計(jì)和資料模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件，操作手冊，質(zhì)量認(rèn)證書，儀器箱 | 2042DNF |
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| 鐵基/非鐵基 | 2042 Fe/NFe Set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計(jì)模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 EasyExport軟件，操作手冊，質(zhì)量認(rèn)證書，儀器箱 | 2042 E |
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| 2042 Fe/NFe Data Set----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計(jì)和資料模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件，操作手冊，質(zhì)量認(rèn)證書，儀器箱 | 2042 D |
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附件：
試塊和膜片
探頭定位裝置?。ㄟm用于微型探頭）
定位輔助裝置 （適用于微型探頭）
電腦軟件 STATWIN 2002 用于數(shù)據(jù)傳輸和對整個(gè)目錄結(jié)構(gòu)的便捷管理
電腦軟件 EasyExport 用于把單獨(dú)的杜說或全部文件傳輸?shù)絎indows 程序里
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