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產 品 概 要
原子力顯微鏡（Atomic Force Microscopy，簡稱AFM），是一種不需要導電試樣的掃描探針顯微鏡。這種顯微鏡通過其粗細只有一個原子大小的探針在非常近的距離上探索物體表面的情況，便可以分辨出其他顯微鏡無法分辨的極小尺度上的表面細節與特征。
產品簡介
詳細介紹
| 產 品 概 要 | |||
| 原子力顯微鏡（Atomic Force Microscopy，簡稱AFM），是一種不需要導電試樣的掃描探針顯微鏡。這種顯微鏡通過其粗細只有一個原子大小的探針在非常近的距離上探索物體表面的情況，便可以分辨出其他顯微鏡無法分辨的極小尺度上的表面細節與特征。AFM能以*的高分辨率探測原子和分子的形狀，確定物體的電、磁與機械特性，甚至能確定溫度變化的情況。使用AFM時無需使試樣發生變化，也無需使試樣受破壞性的高能輻射作用。 | |||
 產 品 說 明 | |||
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