產品概述：
SPA-110 是 Santec 的下一代掃描光子學分析儀。它用作 Santec 可調諧激光器的便捷光頻域反射法 （OFDR） 附加模塊。配對后，這個完整的系統甚至可以分析緊湊和復雜的光學元件，提供反射率、透射率、傳播損耗和事件距離的詳細結果。
整個系統使用光頻域反射法 （OFDR） 技術來分析空間域中光纖器件和元件的背向反射和傳輸特性。它生成的跡線類似于光時域反射儀 （OTDR） 的跡線，但分辨率和精度明顯更高。該系統的采樣分辨率為 5 μm，可輕松識別光子集成電路 （PIC） 和硅光子 （SiPh） 器件內的結構。
SPA-110 基于 Santec 的 SPA-100 技術，將總測量范圍從 5 米擴展到 30 米。這種增加的范圍允許在光纖設置中添加光信號調節設備，例如偏振控制器和光開關。這一增強功能使該系統特別適用于對硅光子電路、光纖元件和緊湊型光纖組件等小型器件進行更全面的表征。
此外，擴展的掃描長度允許分析具有緊密間隔組件的較長光纜組件，而 OTDR 技術可能難以區分它們。
產品特點：
業界最高分辨率的反射計 （<5 μm）
測量光學元件上的插入損耗和回波損耗
改進的 30m 測量范圍
用于硅光子對準和測試的接近傳感
與 Santec TSL-570（也稱為 TSL-550/TSL-710/TSL-770）集成)
用于集成 OPM 的饋通端口，用于硅光子器件的主動對準
用于硅光子應用的保偏光纖
WDL 測量的寬掃描范圍（高達 160 nm）
提供 O 波段和 CL 波段配置。
寬動態范圍 （>80 dB），用于 WDL 測量，無需增益切換
包括簡單的分析軟件
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