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KEYENCE3D位移測量儀WI-5000系列
閱讀：525 發布時間：2019-12-13特性
并非以點線測量，而是以“面”進行測量
針對大 10 × 10 mm 的測量區域，可瞬間獲取 8 萬個點的高度。 由于采用白光干涉原理，不受材質/顏色、死角的影響，實現了微米級的高精度測量。
在線實現高速全數檢測
測量多點時，需要高精度且高速掃描目標物。 因此，往往會將時間浪費在移動載物臺上，不易進行全數檢測。 由于 WI-5000 系列是以面進行同時測量，因此可大幅縮短測量時間，實現全數檢測。
大幅削減離線檢測工時
為了用于離線檢測，備有可固定傳感器頭的底座。 配備可削減檢測工時的各種實用功能。 改善從簡易測量到保存數據等各種情況的可操作性。