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技術的ZETA電位儀已于2007年10月*
惟一擁有高濃度zeta電位測量技術，并且同時也是已知的惟一的可實現固體和薄膜表面zeta電位測量的技術的型的儀器----delsanano已于2007年10月在北京的bceia上*并亮相。
該臺采用fst技術由美國貝克曼庫爾特公司出品的zeta 電位儀及納米粒度分析儀為顆粒特性的表征提供的手段，又一次為材料分析領域帶來了技術突破。同時亦成為美國貝克曼庫爾特公司在顆粒特性分析儀器領域始終處于的注腳。
欲了解更多關于技術的delsanano的相關特性及參數，請立即貝克曼庫爾特公司顆粒特性分析部門于各地的代表處或瀏覽：www.coultercoulter.com或www.instrument.com.cn/netshow/sh100336
該臺采用fst技術由美國貝克曼庫爾特公司出品的zeta 電位儀及納米粒度分析儀為顆粒特性的表征提供的手段，又一次為材料分析領域帶來了技術突破。同時亦成為美國貝克曼庫爾特公司在顆粒特性分析儀器領域始終處于的注腳。
欲了解更多關于技術的delsanano的相關特性及參數，請立即貝克曼庫爾特公司顆粒特性分析部門于各地的代表處或瀏覽：www.coultercoulter.com或www.instrument.com.cn/netshow/sh100336