目錄:北京瑞科中儀科技有限公司>>薄膜測量儀器>> SENpro光譜橢偏儀
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 環保,化工,電子 |
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光譜橢偏儀
成本效益
SENpro是具成本效益的光譜橢偏儀，同時不影響先進測量性能。
可變入射角
光譜橢偏儀SENpro包括可變入射角的角度計，40°—90°，步進值5°，用于優化橢偏測量。
步進掃描分析器
SENpro具有步進掃描分析器。在數據采集過程中，偏振器和補償器固定，以提供高的橢偏測量精度。
光譜橢偏儀SENpro具有操作簡單，測量速度快，能對不同入射角的橢偏測量數據進行組合分析等特點。光譜范圍為370到1050 nm。SENpro的光譜范圍與精密的SpectraRay/4軟件相結合，可以輕易地確定單層膜和復合層疊膜的厚度和折射率。
具有成本效益的桌面式SENpro包括可見光到近紅外橢偏儀光學，5°步進角度計，樣品臺、激光準直器、光纖耦合穩定光源和探測器單元。SENpro配備了用于系統控制和數據分析的光譜橢偏儀軟件SpectraRay/4 ，用于包括建模，擬合和報告輸出。即使對于初學者，該程序文件操作都非常容易。SpectraRay/4 支持計算機控制的用于均勻性測量的自動掃描。
SENpro專注于薄膜測量的速度和精度，不管是何種薄膜應用。測量范圍從1 nm的薄層膜到15 μm的厚層膜。
對于各種各樣的應用，SpectraRay/4都提供了預定義的配方。
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