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超聲波測厚儀常見問題及解決方法
超聲波測厚儀常見問題及解決方法
1、 清潔表面
測量前應清除被測物體表面所有的灰塵、污垢及銹蝕物，使用不帶穿透涂層功能的超聲波測厚儀要鏟除油漆等覆蓋物。
2 、提高粗糙度要求
粗糙的表面會引起測量誤差，甚至儀器無讀數。測量前應盡量使被測材料表面光滑，可使用磨、拋、銼等方法使其光滑。還可使用高粘度耦合劑。
3 、測量圓柱型表面
測量圓柱型材料，如管子、軸類等，選擇探頭分割線與被測材料軸線相垂直為理想情況。簡單地說，將探頭與被測材料耦合，然后圍繞被測物軸線轉動探頭或者垂直于被測物軸線平行移動探頭，使探頭的中線與被測物接觸，選擇穩定的讀數，作為材料的準確厚度。對于不同直徑的被測物選擇不同的晶片尺寸探頭對測量會有幫助的。
4、 不平行表面
為了得到一個令人滿意的超聲響應，被測材料的另一表面必須與被測面平行或同軸，否則將引起測量誤差或根本無讀數顯示。
5、 材料的溫度影響
材料的厚度與超聲波傳播速度均受溫度的影響，使用常規探頭時，被測物表面不應超過 60℃，否則探頭不能使用。溫度較高時要使用高溫探頭和高溫耦合劑。
6、 大衰減材料
對于一些如纖維、多孔、粗粒子材料，它們會造成超聲波的大量散射和能量衰減，以致出現反常的讀數甚至無讀數(通常反常的讀數小于實際厚度)，在這種情況下，則說明該材料不適于用此測厚儀測試。
7、 參考試塊
對不同材料在不同條件下進行精確測量，校準試塊的材料越接近于被測材料，測量就越精確。理想的參考試塊將是一組被測材料的不同厚度的試塊，試塊能提供儀器補償校正因素(如材料的微觀結構、熱處理條件、粒子方向、表面粗糙等)。為了滿足最大精度測量的要求，一套參考試塊將是很重要的。
在大部分情況下，只要使用一個參考試塊就能得到令人滿意的測量精度，這個試塊應具有與被測材料相同的材質和相近的厚度。取均勻被測材料用千分尺測量后就能作為一個試塊。對于薄材料，在它的厚度接近于探頭測量下 ，可用試塊來確定準確的低限。不要測量低于下限厚度的材料。如果一個厚度范圍是可以估計的，那么試塊的厚度應選上限值。當被測材料較厚時，特別是內部結構較為復雜的合金等，應在一組試塊中選擇一個接近被測材料的，以便于掌握校準。大部分鍛件和鑄件的內部結構具有方向性，在不同的方向上，聲速將會有少量變化，為了解決這個問題，試塊應具有與被測材料相同方向的內部結構，聲波在試塊中的傳播方向也要與在被測材料中的方向相同。
在一定情況下，查已知材料的聲速表，可代替參考試塊，但這只是近似地代替一些參考試塊，在一些情況下，聲速表中的數值與實際測量有別，這是因為材料的物理及化學情況有異。這種方法常被用來測低碳鋼，但只能作為粗略測量。
8、 超薄材料
使用任何超聲波測厚儀，當被測材料的厚度降到探頭使用下限以下時，將導致測量誤差，必要時，最小極限厚度可用試塊比較法測得。當測量超薄材料時，有時會發生一種稱為“雙重折射"的錯誤結果，它的結果為顯示讀數是實際厚度的二倍，另一種錯誤結果它的結果是測得值大于實際厚度，為防止這類誤差，測臨界薄材時應重復測量核對。
9、 銹斑、腐蝕凹坑等
被測材料另一表面的銹斑凹坑等將引起讀數無規則地變化，在 情況下甚至無讀數，很小的銹點有時是很難發現的。當發現凹坑或感到懷疑時，這個區域的測量就得十分小心，可選擇探頭不同角度的定位來做多次測試。
10、 材料識別錯誤
當用一種材料校正了儀器后，又去測試另一種材料時，將發生錯誤的結果，應注意選擇正確的聲速。
11、探頭的磨損
探頭表面為丙烯樹脂,長期使用會使粗糙度增高,導致靈敏度下降，用戶在可以確定為此原因造成誤差的情況下，則需更換探頭。
12、金屬表面氧化層的影響
有些金屬可在其表面產生較致密的氧化層，例如鋁等，這層氧化層與基體間結合緊密，無明顯界面，但超聲波在這兩種物質中的傳播速度是不同的，故會造成誤差，且氧化層厚度不同誤差的大小也不同，請用戶在使用時加以注意，可以在同一批被測材料中選擇一塊用千分尺或卡尺測量制成樣塊，對儀器進行校準。
13、耦合劑的使用和選擇
耦合劑是用來作為探頭與被測材料之間的高頻超聲能量傳遞的。如果選擇種類或使用方法不當將有可能造成誤差或耦合標志閃爍，無法測值。耦合劑應適量使用，涂沫均勻。選擇合適種類的耦合劑是重要的，當使用在光滑材料表面時，低粘度的耦合劑(如隨機配置的耦合劑、輕機油等)是很合適的。當使用在粗糙材料表面，或垂直表面及頂面時，可使用粘度較高的耦合劑(如甘油膏、黃油、潤滑脂等)。