目錄:深圳德譜儀器有限公司>>鍍層測厚儀/膜厚儀>>鍍層測厚儀>> TX-200鍍層測厚儀
| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環保,食品,電子,電氣,綜合 |
鍍層測厚儀
型號：TX-200
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）。
一次可同時分析zui多24個元素，五層鍍層。
分析檢出限可達2ppm，zui薄可測試0.005μm。
分析含量一般為2ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
多次測量重復性可達0.1%
長期工作穩定性可達0.1%
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
鍍層測厚儀技術指標
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
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