當前位置:南京互川電子有限公司>>無損檢測器材>>超聲波探傷試塊>> CSK-IB試塊(超聲波探傷試塊)
鋼焊縫手工超聲波探傷標準試塊 GB/T11345-89
CSK-IA和CSK-IB試塊的主要用途
兩個試塊的主要區別在于:CSK—IB試塊在原有CSK-IA的基礎上增加了測試斜探頭折射角的刻度面。
使用要點:
1)利用厚度25mm測定探傷儀的水平線性、垂直線性和動態范圍;
2)利用厚度25mm和高度100mm調整縱波探測范圍;
3)利用R50和R100校定時基線或測定斜探頭的入射點;
4)利用高度85、91、100ram測定直探頭的分辨力;
5)利用中40、中44、中50ram曲面測定斜探頭的分辨力;
6)利用中50有機玻璃圓孔測定直探頭盲區和穿透能力;
7)利用中50曲面和巾1.5橫孔測定斜探頭的K值;
8)利用高度9lmm(縱波聲程9lmm相當于橫波50mm)調節橫波1:1掃描速度,配合R100作零位校正;
9)、利用試塊直角棱邊測定斜探頭的聲軸偏斜角。
CSK—IA試塊
產品關鍵字:超聲波探傷試塊,CSK-IB標準試塊,CSK-IB碳鋼試塊,CSK-IA標準試塊,鋼焊縫手工超聲波探傷標準試塊
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供,信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責,化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示:為規避購買風險,建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。