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DENS Lightning TEM 原位熱電方案
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01 產品概況
Lightning TEM 原位熱電方案是為了幫助研究人員在精確控制加電和加熱環境的同時觀察樣品變化的實時動態過程，擴展了在TEM中的應用范圍。搭配的 Lightning Nano-chip 芯片能夠提供最高精度控制樣品偏壓和加熱環境的能力，能在 900℃ 高溫下同時實現高于300kV/cm 的電場，芯片擁有多種配置，能夠滿足不同的實驗要求，并都能保證 TEM 的原子級分辨率成像能力，同時創建了最為真實的應用環境。在進行熱學研究的同時，在 pA 電流靈敏度下完成 I-V 測試，為原位實驗研究提供了全新的觀察視角。
02 產品特點
樣品制備簡單便捷
1. 樣品制備成功率高 使用我們專有的 FIB 樣品臺、Nano-Chip 芯片和詳細的 制樣流程簡化了整個制樣過程。 2. 優質的 FIB 薄片 直接在芯片上進行最終減薄，而不影響加熱和加電性能。
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可靠的環境刺激控制 1. 精準控制加熱和加電 四探針法為加熱和加電設計提供了最準確的溫度、電壓和 電流控制。 2. 原位環境刺激范圍廣 基于 MEMS 的 Nano-Chip 芯片旨在單獨或同時承受最高 溫度和電場。 3. 可靠的溫度 可通過使用 EELS 和 SAED 技術在 TEM 中直接驗證溫 度。
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高質量的數據結果 1. 全新的觀察視角 進行熱學研究的同時，在具有真正 pA 電流靈敏度的條件 下測量 I-V。 2. 超高穩定性 即使溫度達到 1000 °C（ ΔT = 1000 °C），漂移率也小 于 200 nm，樣品穩定時間短，即使在高電壓下也能達到 原子級分辨率。 3. 不受影響的 STEM/TEM 性能 較小的 Z 軸位移（膨脹）保證了分辨率不受影響，且無 需移動樣品臺。
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03. 案例分享
下圖是在 800℃ 的條件下，我們對樣品進行加電實驗，觀察樣品核殼納米材料在 HRTEM 下顯示的結構變化，并且此時電壓可以達到高值。樣品桿具有高穩定性，即便在最高溫度和電場環境下，也能實現常規的原子分辨率成像。
04 應用領域
05 原位實驗技術簡介
透射電子顯微鏡（TEM）一直是觀察微觀世界的有力工具。尤其是球差矯正器的出現，科學家已經可以實現在原子尺度上對材料的化學結構進行表征成像。此外，TEM 的進步也帶動了 CCD 相機的發展，這樣，TEM 就同時具有優異的空間分辨率和時間分辨率，那么時間和空間的結合，是否可以讓 TEM 動起來？
眾所皆知，TEM 需要在高真空條件下表征靜止狀態下的樣品，但這不足以反映材料在真實環境下的微觀結構。為此，荷蘭 DENSsolutions 公司多位科學家利用最新的 MEMS 技術，設計出的納米芯片，據此可以向 TEM 中引入動態外界刺激條件，模擬樣品在真實環境下的狀態，打破壓力的限制，記錄樣品的動態變化過程，讓 TEM真正的實現動起來。
荷蘭 DENSsolutions 公司為透射電鏡提供技術優良的、納米尺度的原位顯微工具，其產品可以為原位 TEM 樣品施加外界刺激，捕捉 TEM 樣品在真實環境下的動態現象。目前，已經可以在 TEM 中引入氣、液、熱、電等多種狀態。
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