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天普UV757紫外可見分光光度計能在紫外、可見光譜區域對樣品物質作定性和定量的分析。
快速調整 ( 調整時間小于3S) 。
天普UV757紫外可見分光光度計采用微機測量系統 ,T-A 轉換 , 自動調整 " 0 " 和調整 "100", 具有 GOTO λ , 時間掃描 , 自動 8 聯樣品架 , 自動扣除比色皿誤差 , 濃度多點標定 , 斜率和載距設置等功能 , 具有 RS 一 232 接口和并行打印口 ( 打印機 , 另行選項配 )。
聯機功能 : 通過 RS-232 串行接口 , 可利用上層軟件作全波長掃描 , 時間掃描 , 濃度回歸方程 (1 次、 2 次、 3 次 ), 多波長測試 , 井大大擴展測試功能 ( 除主機功能外 ), 提供測試數據向 EXECL 傳送方式 , 便于用戶的后期處理要求。通用打印機輸出。
技術參數：
波長范圍 :200nm~1000nm;
光源 : 鎢鹵素燈 12V20w( 進口 ),DD2.5 氘燈 ( 進口 )；接收元件 : 光電池
波長度 : 士 0.5nm；( 開機自動校正 )
波長重復性 : ≤ 0.2nm； 光譜帶寬 :2nm；
雜光：≤0.3%(τ)(220nm 和 340nm 處 )；
透射比顯示范圍 :0.0%(τ)~ 200.0%(τ);
吸光度顯示范圍 : - 0.301~4.000(A);
透射比度 : ± 0.3%(τ);
透射比重復性 : ≤ 0.15% （τ）
噪聲 :* 噪聲 ≤ O.3% （τ）, 0% 噪聲≤ 0.2% （τ）
穩定性 : ≤0.004A/30min
電源 :AC220V ±22V；5OHz ±1Hz
