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產品簡介
詳細介紹
CH-UV2400系列比例監測雙光束紫外-可見分光光度計，采用新型的光學結構及C-T式單色器以及優質的電路系統設計，使儀器具有波長精度高，重復性好，雜散光低及長時間的穩定性和高性價比，可滿足各種層次的分析應用所需，若配上軟件，可與PC連接，實現更多的測試功能包括數據海量存貯。
紫外可見分光光度計功能
自動扣除比色皿誤差
自動波長：鍵盤輸入zui小間隔為0.1nm。
光度測量：定波長測試透過率、吸光度和系數吸光度及能量的測量。
定量測定：單波長法，1-3階線性標準曲線擬合，zui多可建立9個標樣點的標準曲線。
多波長測定：具有可設5個波長的設定，對同一樣品連續測定。
自動波長：鍵盤輸入zui小間隔為0.1nm。
光度測量：定波長測試透過率、吸光度和系數吸光度及能量的測量。
定量測定：單波長法，1-3階線性標準曲線擬合，zui多可建立9個標樣點的標準曲線。
多波長測定：具有可設5個波長的設定，對同一樣品連續測定。
紫外可見分光光度計特點
自動八聯池：一次可放7個樣品大大提高測樣分析速度。
自動扣除比色皿誤差：使測光準確度（被測樣濃度較低時）更為準確。
光譜帶寬小：單色光純儀器分辨率高。
超低雜散光：使高濃度樣品測試更準確。
持久的穩定性：比例監測雙光束光路、電路系統，確保儀器長時間的穩定。
顯示及操作：液晶屏顯示器、菜單化工作界面、人性化設計、用戶操作簡單。
燈源更換簡單方便：法蘭盤座式氘燈結構，更換氘燈無需工具，免去換燈時光路調試步驟，使儀器調試、維護更加簡單。
具有USB接口：配上軟件可與PC機相連，擴至多種測試功能（光譜掃描、動力測定等）包括數據的數量貯存。
自動扣除比色皿誤差：使測光準確度（被測樣濃度較低時）更為準確。
光譜帶寬小：單色光純儀器分辨率高。
超低雜散光：使高濃度樣品測試更準確。
持久的穩定性：比例監測雙光束光路、電路系統，確保儀器長時間的穩定。
顯示及操作：液晶屏顯示器、菜單化工作界面、人性化設計、用戶操作簡單。
燈源更換簡單方便：法蘭盤座式氘燈結構，更換氘燈無需工具，免去換燈時光路調試步驟，使儀器調試、維護更加簡單。
具有USB接口：配上軟件可與PC機相連，擴至多種測試功能（光譜掃描、動力測定等）包括數據的數量貯存。
| 型 號 | CH-UV2400 |
| 光學系統 | 比例監測雙光束 |
| 光譜帶寬 | 1.8nm |
| 波長范圍 | 190～1100nm |
| 波長zui大允許誤差 | ±0.5nm |
| 波長重復性 | ≤0.2nm |
| 光度范圍 | T:0～200.00%T A:-0.301～4.000Abs |
| 透射比zui大允許誤差 | ±0.3%T |
| 透射比重復性 | ≤0.1%T |
| 雜散光 | ≤0.05%T（220nm、340nm處） |
| 基線平直度 | ±0.002A |
| 漂移 | ≤0.001A/h （500nm處） |
| 噪聲 | *（T）線噪聲≤0.1%（T） 0%（T）線噪聲≤0.05%（T） |
| 顯示器 | 128×64大屏幕液晶顯示 |
| 外形尺寸 | 540x445x230（mm） |