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X射線光電子能譜有哪些應(yīng)用？
閱讀：871 發(fā)布時間：2022-11-16
X射線光電子能譜（XPS）通過使用X射線光束照射固體樣品的表面并收集從樣本表面放射的光電子光譜，來提供表面化學(xué)狀態(tài)信息。通常，XPS 測量的分析深度小于10nm，同時取決于逸出電子的動能。光電子譜包含可用于識別被檢測元素化學(xué)狀態(tài)的結(jié)合能信息。
X射線光電子能譜法的應(yīng)用
X射線光電子能譜法的應(yīng)用
(1)元素定性分析
各種元素都有它的特征的電子結(jié)合能，因此在能譜圖中就出現(xiàn)特征譜線，可以根據(jù)這些譜線在能譜圖中的位置來鑒定周期表中除H和He以外的所有元素。通過對樣品進行全掃描，在一次測定中就可以檢出全部或大部分元素。
(2)元素定量分折
X射線光電子能譜定量分析的依據(jù)是光電子譜線的強度(光電子蜂的面積)反映了原于的含量或相對濃度。在實際分析中，采用與標準樣品相比較的方法來對元素進行定量分析，其分析精度達1％～2％。
(3)固體表面分析
固體表面是指最外層的1～10個原子層，其厚度大概是(0.1~1)nm。人們早已認識到在固體表面存在有一個與團體內(nèi)部的組成和性質(zhì)不同的相。表面研究包括分析表面的元素組成和化學(xué)組成，原子價態(tài)，表面能態(tài)分布。測定表面原子的電子云分布和能級結(jié)構(gòu)等。X射線光電子能譜是常用的工具。在表面吸附、催化、金屬的氧化和腐蝕、半導(dǎo)體、電極鈍化、薄膜材料等方面都有應(yīng)用。
(4)化合物結(jié)構(gòu)鑒定
X射線光電子能譜法對于內(nèi)殼層電子結(jié)合能化學(xué)位移的精確測量，能提供化學(xué)鍵和電荷分布方面的信息。
5）分子生物學(xué)中的應(yīng)用：
利用XPS鑒定維生素B12中的少量的Co。
6）膜表面深度分析：
用Ar+離子束對清除材料表面污染層，對材料進行深度剖析。