 | 北京中航時(shí)代儀器設(shè)備有限公司 |
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詳細(xì)摘要：ZJD-B數(shù)字式介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀讀書(shū)清晰,無(wú)須換算,操作簡(jiǎn)便,特別適合電子元器件的質(zhì)量分析,品質(zhì)控制,科研生產(chǎn),也可用于高校的電子信息,電子通信,材料科學(xué)等專業(yè)作科研實(shí)驗(yàn)儀器. 產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)顧八路1號(hào) 參考價(jià)：¥16000
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詳細(xì)摘要：介電常數(shù)測(cè)試儀適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測(cè)試。 產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)顧八路1號(hào) 參考價(jià)：¥16000
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詳細(xì)摘要：儀器遵從標(biāo)準(zhǔn)：GB/T5594.4-1985 產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)顧八路1號(hào) 參考價(jià)：¥17000
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詳細(xì)摘要：ZJD-A介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測(cè)試。 產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)顧八路1號(hào) 參考價(jià)：¥17000
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詳細(xì)摘要：塑料薄膜工頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗QS37型西林電橋。主要用于測(cè)量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經(jīng)典線路。主要可以測(cè)量電容器，互感器，變壓器，各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗( tg)和電容量( Cx)以，其測(cè)量線路采用“正接法"即測(cè)量對(duì)地絕緣的試品。電橋由橋體、指另儀、跟蹤器組成，本電橋特別適應(yīng)測(cè)量各類絕緣油和絕緣材料的介損（tg）及介電常數(shù)（ε）。 產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)顧八路1號(hào) 參考價(jià)：¥10000
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詳細(xì)摘要：ZJD-A介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測(cè)試。 產(chǎn)品型號(hào)：ZJD-A所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)顧八路1號(hào) 參考價(jià)：¥16000
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詳細(xì)摘要：ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測(cè)試。 產(chǎn)品型號(hào)：ZJD-C所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)顧八路1號(hào) 參考價(jià)：¥16000
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詳細(xì)摘要：ZJD-A介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測(cè)試。 產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)顧八路1號(hào) 參考價(jià)：¥16000
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詳細(xì)摘要：ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國(guó)內(nèi)Z高的160MHz。 產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)顧八路1號(hào) 參考價(jià)：¥16000
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詳細(xì)摘要：介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測(cè)試。 產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)顧八路1號(hào) 參考價(jià)：¥16000
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北京中航時(shí)代儀器設(shè)備有限公司主營(yíng)產(chǎn)品：電壓擊穿試驗(yàn)儀-介電常數(shù)測(cè)試儀
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