目錄:北京中顯恒業儀器儀表有限公司>>澤攸科技電子顯微鏡>>TEM原位解決方案>> TEM原位拉伸與360°水平旋轉樣樣品桿
價格區間 | 面議 | 儀器種類 | 鎢燈絲或六硼化鑭 |
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應用領域 | 綜合 |
產品描述
PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿,可在室溫條件下對材料施加拉力,結合透射電鏡原位觀察材料結構的變化。
本套系統包括:單傾拉伸樣品桿、拉伸控制器、專用拉伸樣品載片。 應用方向:研究金屬材料、納米材料、薄膜等的力學變化機制。
△ 適用于Thermofisher(FEI)、JEOL、Hitachi、Zeiss品牌透射電鏡
△ 兼容類型極靴
△ 保證透射電鏡原有分辨率
△ 最大拉伸位移:2 mm
△ 拉伸速率:0.2 um-50 um/s
△ 拉伸步長:小于100nm
產品描述
PicoFemto透射電鏡360°水平旋轉樣品桿,同時具備β角傾轉以及360°水平旋轉的功能,可以在透射電子顯微鏡中多自由度高精度旋轉樣品。
△ 兼容型號電鏡及極靴;
△ 保證電鏡原有分辨率;
△ 保證電鏡原有真空度;
△ 雙傾可選(±30°同時受限于極靴);
△ 流暢、準確、連續地實現水平方向360°旋轉,延遲以及震動極小;
△ 高精度電機控制的β方向傾轉以及水平方向旋轉。