詳細介紹
梅特勒XS系列天平、XS205DU分析天平
產品描述:
一、梅特勒XS系列天平、XS205DU分析天平采用高精度、高分辨率后置式傳感器,獲得準確稱量結果;
二、全自動校準技術(FACT),溫度漂移和工廠時間設置觸發的內置砝碼自動校準,以及全自動線性校準技術,獲得精確稱量結果;
三、變量程設置(Deltarange)和雙量程(Dualrange)設計,滿足不同樣品的稱量需求;
四、觸摸屏設計(Touchscreen),方便稱量菜單和參數設置;
五、網絡稱盤(Smartgrid)、獲得快速、穩定的稱量結果;
六、易巧稱量組件(Ergoclips),滿足使用不同去皮容器的稱量需求;
七、可移動的顯示控制終端,方便使用;
八、具備*可拆卸的防風罩設計,實現快速清潔;
九、內置RS232C通訊接口選件槽,方便連接打印機、電腦等外圍設備;
十、優化天平適應性的稱量參數設置、滿足不同稱量環境要求;
十一、具有基礎稱量、統計稱量、配方稱量、密度測定等內置應用程序
十二、E-loader軟件,實現天平軟件的即使更新。
技術指標
型號 | XS205DU |
zui大稱量值 | 81/220g |
可讀性 | 0.01/0.1mg |
zui大稱量值重復性(s) | 0.1mg |
10g重復性(s) | 0.05mg |
線性 | ±0.2mg |
1/2zui大稱量1)四角誤差 | 0.3mg |
靈敏度漂移 | 0.0004% |
靈敏度溫度漂移2) | 0.00015%/℃ |
靈敏度穩定性3) | 0.0002%/a |
典型稱量時間4) | 4s/1.5s |
接口更新速率 | 23/s |
防風罩有效高度(mm) | 235 |
秤盤尺寸(mm) | 78×73 |
天平外形尺寸(W×D×H)(mm) | 263×453×322 |