詳細介紹
天星ED-400型渦流測厚儀
天星ED-400型渦流測厚儀適于在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速、無損的膜厚檢查, 可用于生產檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。符合國家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。
天星ED-400型渦流測厚儀自1993年開始生產以來,伴隨著我國鋁加工行業的成長,其自身也在不斷改進和提高,目前,已生產了ED200型、ED300型和ED400型三代產品,天星ED-400型渦流測厚儀是一代產品,其產品質量和測試精度達到國外儀器水平,其耐用性非常突出,超過國內外儀器。天星測厚儀以良好的質量,及時、優質、低費用的售后服務得到用戶的廣泛贊譽和認可,天星測厚儀在鋁型材行業的*超過90%,成為該行業的產品。
儀器特點
天星ED-400型渦流測厚儀與ED300型相比,具有如下特點:
● 量程寬- ED400型渦流測厚儀量程達到0~500 μm。
● 精度高- 測量精度達到2%。
● 分辨率高- 分辨率達到0.1 μm
● 校正簡便- 只校正“0”和“50 μm”兩點,即可在全量程范圍內保證設計精度。
● 基體導電率影響小- 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時,測量誤差不大于1~2 μm。
● 可靠性提高- 采用高集成度、高穩定性電子器件,電路結構優化,儀器可靠性提高。
● 穩定性提高- 采用良好的溫度補償技術,測量值隨環境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產現場長期使用。
● 探頭芯壽命長- 采用高強度磁芯材料,微調了探頭設計,探頭芯壽命可大大延長。
技術參數
型號 | ED-400 |
測量范圍 | 0~500 μm |
測量精度 | 0~50 μm:±1 μm; 50~500 μm:±2% |
分辨率 | 0~50 μm:0.1 μm; 50~500 μm:1 μm; 0~500 μm:1 μm(可選) |
使用溫度: | 5~45℃ |
外形尺寸 | 150 mm×80 mm×30 mm |
重 量 | 280 g |
標準配置:
主機
探頭
基體(6063鋁合金)
校正箔片 一套4片(附檢測報告)
儀器箱
可選附件:
備用探頭
基體
校正箔片(附檢測報告)