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孔、面銅測厚儀 CMI700系列
CMI760是CMI700系列專為滿足印刷電路板行業銅厚測量和質量控制的需求而設計;采用微電阻和電渦流方式測量表面銅和孔內鍍銅厚度。具有多功能性、高擴展性和*統計功能,統計功能用于數據整理分析。
型號 | CMI760 | CMI760E | 備注 |
名稱 | 臺式面銅測厚儀 | 臺式孔、面銅測厚儀 |
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標配 |
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| SRP-4探針又稱水晶頭 |
選配 |
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700 SERIES主機參數:
SRP-4面銅探頭參數:
電鍍銅:2.5μm–254μm(0.1mil–10mil)
ETP孔銅探頭參數:
電渦流原理