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研究型偏光顯微鏡 XPV-400
一、儀器的用途：
XPV-400型透反射偏光顯微鏡是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校常用的專業實驗儀器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件，如：化工的化學纖維，半導體工業以及藥品檢驗。
二、技術參數
1.目鏡
類 型 | 放大倍數 | 視場（mm） |
平場目鏡 | 10X | φ22 |
2.物鏡
類 型 | 放大倍數 | 數值孔徑（NA） | 工作距離（mm） |
平場消色差物鏡 | 5X | 0.1 | 7.18 |
10X | 0.25 | 4.70 | |
40X | 0.65 | 0.72 | |
60X | 0.85 | 0.18 |
研究型偏光顯微鏡 XPV-400
3.放大倍數：40X 100X 400X 600X 系統放大倍數：40X-2600X
4.聚光鏡數值孔徑：NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡，中心可調
5.起偏鏡：振動方向360°可調，帶鎖緊裝置，可移動光路
6.檢偏鏡：可移出光路，旋轉范圍90°，內置勃氏鏡，中心可調
7.補償器：λ片（Ф18mm，一級紅，光程差551nm）、λ/4片（Ф18mm, 光程差147.3nm） 石英楔子（12x28mm，Ⅰ-Ⅳ
8.調焦系統：帶限位和調節松緊裝置的同軸粗微動，微動格值 0.002m
9.電光源：6V/20W 鹵素燈（亮度可調）
10.防霉：*的防霉系統
三、儀器特點：
透反射偏光顯微鏡系統是采用無限遠光學系統及模塊化功能設計，配置無窮遠無應力長工作距離平場物鏡，將精密的光學顯微鏡技術、的光電轉換技術、*的計算機圖像處理技術*地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。可以顯示屏上很方便地觀察實時動態圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。
四、系統組成
電腦型透反射偏光顯微鏡（XPV-400E）：1、偏光顯微鏡 2、適配鏡 3、攝像器（300萬） 4、圖像采集及處理軟件 5、測量軟件 6、數據線 7、計算機（選購）
數碼型透反射偏光顯微鏡（XPV-400D）：1、偏光顯微鏡 2、適配鏡 3、數碼相機
五、選購件
1、高像素成像器:500萬或900萬像素成像器 2.偏光測量軟件或偏光分析軟件
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