YK-AEU210是引進日本新技術生產的集精確、穩定為主要特點的電子分析天平,可以*實驗室質量分析要求。
產品簡介
詳細介紹
電子分析天平(上皿式210g/0.1mg)YK-AEU210
YK-AEU210是引進日本新技術生產的集精確、穩定為主要特點的電子分析天平,可以*實驗室質量分析要求。該系列天平采用CPPM工作方式,確保稱量過程中良好的穩定性,并具有DATA I/O和RS-232C接口,可與打印機、計算機等外圍設備連接。全自動內校電子分析天平帶有內藏砝碼,探測溫度變化觸發校準,可自動保持在任何環境下天平的靈敏度。
電子分析天平(上皿式210g/0.1mg)YK-AEU210主要技術參數
zui大稱量(g)210g
分度值(g) 0.1mg
稱盤尺寸(mm) Φ80mm
電子分析天平(上皿式210g/0.1mg)YK-AEU210是引進日本新技術生產的集精確、穩定為主要特點的電子分析天平,可以*實驗室質量分析要求。該系列天平采用CPPM工作方式,確保稱量過程中良好的穩定性,并具有DATA I/O和RS-232C接口,可與打印機、計算機等外圍設備連接。全自動內校電子分析天平帶有內藏砝碼,探測溫度變化觸發校準,可自動保持在任何環境下天平的靈敏度。
我公司質量承諾:一年保修,終身維護!用專業精神為您的使用保駕護航!