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上海鼎徵儀器儀表設(shè)備有限公司

謝文清

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上海市閘北區(qū)恒通路360號(hào)20樓A18室

www.dingzhi18。。ｃｏｍ

德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn)：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號(hào)均可配所有探頭；
可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)；
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。

功能

型號(hào)	1100	2100	3100	4100
MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))	1	1	10	99
每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)，可設(shè)寬容度極限值)	-	1	10	99
可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)	-	1	500	500
數(shù)據(jù)總量	1	10000	10000	10000
MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar	-	√	√	√
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar	-	-	√	√
組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)	-	-	-	√
分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值	-	-	√	√
顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間	-	√	√	√
其他功能
透過(guò)涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC)	-	√	√	√
在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)	√	√	√	√
利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)	√	√	√	√
補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(Offset)	-	-	√	√
外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能	-	√	√	√
保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置	√	√	√	√
更換電池是存儲(chǔ)數(shù)值	√	√	√	√
設(shè)置極限值	-	-	√	√
公英制轉(zhuǎn)換	√	√	√	√
連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量，通過(guò)模擬柱識(shí)別zui大zui小值	-	-	√	√
連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)	-	-	√	√
浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送	√	√	√	√
組內(nèi)單值延遲顯示	-	√	√	√
連續(xù)測(cè)量模式中顯示zui小值	√	√	√	√

可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

探頭		量程	低端分辨率	誤差	zui小曲率半徑(凸/凹)	zui小測(cè)量區(qū)域直徑	zui小基體厚度	探頭尺寸
磁感應(yīng) 法	F05	0-500μm	0.1μm	±(1%±0.7μm)	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62mm
	F1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x170mm
	F3	0-3000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F10	0-10mm	5μm	±(1%±10μm)	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46mm
	F20	0-20mm	10μm	±(1%±10μm)	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66mm
	F50	0-50mm	10μm	±(3%±50μm)	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70mm
兩用	FN1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm N50μm	φ15x62mm
	FN1.6P	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面	30mm	F0.5mm N50μm	φ21x89mm
	FN2	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm N50μm	φ15x62mm
電渦流法	N02	0-200μm	0.1μm	±(1%±0.5μm)	1/10mm	2mm	50μm	φ16x70mm
	N.08Cr	0-80μm	0.1μm	±(1%±1μm)	2.5mm	2mm	100μm	φ15x62mm
	N1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	2mm	50μm	φ15x62mm
	N1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x170mm
	N10	0-10mm	10μm	±(1%±25μm)	25/100mm	50mm	50μm	φ60x50mm
	N20	0-20mm	10μm	±(1%±50μm)	25/100mm	70mm	50μm	φ65x75mm
	N100	0-100mm	100μm	±(1%±0.3mm)	100mm/平面	200mm	50μm	φ126x155mm
	CN02	10-200μm	0.2μm	±(1%±1μm)	平面	7mm	無(wú)限制	φ17x80mm

注：	F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測(cè)量。 N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

探頭圖示

	FN1.6 0～1600μm,φ5mm 兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層量程低端分辨率很高(0.1μm)
	FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 兩用測(cè)頭，特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度
	F05 0～500μm,φ3mm 磁性測(cè)頭，適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等量程低端分辨宰很高(0.1μm)
	F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭量程低端分辨率很高(0.1μm)
	F3 0～3000μm,φ5mm 磁性測(cè)頭可用于較厚的覆層
	F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性測(cè)頭尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量量程低端分辨率很高(0.1μm)
	F10 0～10mm,φ20mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
	F20 0～20mm,φ40mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
	F50 0～50mm,φ300mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
	N02 0～200μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭，尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層量程低端分辨率很高(0.1μm)
	N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
	N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層量程低端分辨率很高(0.1μm)
	N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較薄的絕緣覆層尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量量程低端分辨率很高(0.1μm)
	N10 0～10mm,φ50mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
	N20 0～20mm,φ70mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
	N100 0～100mm,200mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
	CN02 10～200μm,φ7mm 用于測(cè)量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板