南京毫特科技有限公司
主營產品: 讀數顯微鏡價格,測量投影儀,軸承測磁儀,雙色電刻機,數顯傾角儀 |
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2024-8-2 閱讀(434)
齒厚卡尺綜合誤差檢具
使用說明
一、用途:對齒厚卡尺的綜合誤差進行檢定。
二、主要技術參數
1、外形尺寸(表1):
測量范圍(mm) | 圓柱直徑(mm) | |
一個 | 第二個 | |
M1~16 M2~16 | φ5x40 | φ18x50 |
M5~36 | φ12x50 | φ35x50 |
表1
2、測量范圍:(見表1)
3、直徑偏差<±0.002毫米
4、表面光潔度不低于10
三、檢定方法:
1、根據表1選定相應的尺寸進行檢測。
2、弦長S及相應弦高h按下式計算:
S=d*Soca0
……(2)
(S值和h值均應取至小數點后第二位)式中:S—弦長(毫米),h—弦高(毫米),d—圓柱直徑(毫米),a0—基本齒形角(度)。
為了讀數方便,可將h值的小數點后第二位變為偶數,然后按新的h值帶入下式求出S值:
……(3)
3、檢定時,先將弦高按預先計算好的h值定好,然后測量弦長S,實測S值與理論S值之差即為綜合誤差。
圓柱直徑(毫米) (d) | 弦高(毫米) (h) | 理論S值 (S) |
φ5 | 1.645 | 4.699 |
φ12 | 3.948 | 11.276 |
φ18 | 5.922 | 16.915 |
φ35 | 11.515 | 32.890 |
注:本表為基本齒形角時h和S的相應理論值。