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貨物所在地：北京北京市
更新時間：2024-06-26 21:00:05
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USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀
| ●概要 ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ是在原ＵＳＰＭ－ＲＵ儀器上開發(fā)出的換代產(chǎn)品，是鏡片反射率測定儀的新機型。薄鏡片也不受背面反射光的影響，能實現(xiàn)高速、高精度的分光測定。 ●特征 消除背面反射光 采用特殊光學系，消除背面反射光。不必進行背面的防反射處理，可正確測定表面的反射率。 可測定微小領(lǐng)域的反射率 用對物鏡對焦于被測面的微小區(qū)域(φ60μm)，可測定鏡片曲面及鍍膜層脫落。 測定時間短 使用Flat Field Grating(平面光柵)和線傳感器的高速分光測定，可迅速實現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。 ＸＹ色度圖、L*a*b*測定可能 以分光測定法為基準，從分光反射率情況可測定物體顏色。 Hard Coat(高強度鍍膜)膜厚測定可能 用干涉光分光法，可以不接觸、不破壞地測定被測物的膜厚（單層膜）。 ●主要用途 ·各種透鏡（眼鏡透鏡、光讀取頭鏡片等） ·反射鏡、棱鏡以及其他鍍膜部品等的分光反射率、膜厚測定（單層膜） ●與原產(chǎn)品的主要區(qū)別 ·采用全新的ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ框架及設計，提高了操作性能。 ·受臺Ｚ方向的移動范圍從35mm(原產(chǎn)品)擴大到了85mm。 ·電源規(guī)格可對應AC100V以及AC220V。 (請您在下訂單時注明電源規(guī)格。) ·優(yōu)化了軟件的功能。（可顯示10次測定的功能等） ·XY受臺移動方向增加了比例尺。 ·更換鹵燈時不需調(diào)整燈的位置。 ·ＰＣ與Interface采用了ＵＳＢ式連接。 |
| ●USPM-RUⅢ測定畫面圖例 |
●主要規(guī)格
| 測定波長 | 380nm～780nm |
| 測定方法 | 與參照試料的比較測定 |
| 被測物N.A. | 0.12(使用10×對物鏡時) 0.24(使用20×對物鏡時) ※與對物鏡的N.A不同 |
| 被測物W.D. | 10.1mm(使用10×對物鏡時) 3.1mm(使用20×對物鏡時) |
| 被測物的曲率半徑 | -1R～-∞、+1R～∞ |
| 被測物的測定范圍 | 約φ60μm(使用10×對物鏡時) 約φ30μm(使用20×對物鏡時) |
| 被測物再現(xiàn)性 | ±0.1%以下(2σ)（380nm～410nm測定時） ±0.01%以下(2σ)(410nm～700nm測定時) |
| 表示精度 | 1nm |
| 測定時間 | 數(shù)秒～十數(shù)秒(因取樣時間各異） |
| 光源規(guī)格 | 鹵燈 12V100W |
| 裝置重量 | 本體：約20kg(電腦、打印機除外) 光源用電源：約3kg、控制器：約8kg |
| 裝置尺寸 | 本體：300(W)×550(D)×570(H)mm 光源用電源：150(W)×250(D)×140(H)mm 控制器盒：220(W)×250(D)×140(H)mm |
| 電源規(guī)格 | 光源用電源：100V (2.8A)/220V AC 控制器盒：100V(0.2A)/220V AC |
| 使用環(huán)境 | 水平且無振動的場所 溫度：23±5℃ 濕度：60％以下、無結(jié)露 |
| 軟件 | ■測定參數(shù)設定 ·保存環(huán)境文檔、可讀取
·取樣時間設定 ·判定是否合格 ·波長方向刻度 ■物體顏色測定 ·ＸＹ色度圖、L*a*b*色度圖 ·標準光源設定(A、B、C、D65) ·視野設定(2°視野、10°視野) ■膜厚(單層膜)測定 ·鍍膜材料折射率 |
| *作為特別訂貨，可對應測定波長為440nm～840nm。 | |
·本裝置不保證為Traceability體系中的精度。
·如規(guī)格及外觀發(fā)生變更恕不另行通知，敬請諒解。
光學系光路圖
背面反射光消除的原理
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