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貨物所在地：北京北京市
更新時間：2024-09-17 21:00:05
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從380nm~1050nm的可視光至近紅外實現(xiàn)大范圍波長區(qū)域中的分光測定
奧林巴斯的近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細地進行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區(qū)域、曲面的反射率，因此zui適用于光學元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。
| 近紅外顯微分光測定儀 USPM-RU-W：規(guī)格 | |||||
| 反射率測定 | 透過率測定*1 | 45度反射測定*1 | |||
| 名稱 | 近紅外顯微分光測定儀 | 近紅外顯微分光測定儀用 透過測定選配件 | 近紅外顯微分光測定儀用 45度反射測定選配件 | ||
| 型號 | USPM-RU-W | ||||
| 測定波長 | 380～1050nm | ||||
| 測定方法 | 對參照樣品的比較測定 | 對*基準的透過率測定 | 對參照樣品的比較測定 | ||
| 測定范圍 | 參照下列對物鏡的規(guī)格 | 約ø2.0mm | |||
| 測定 再現(xiàn)性（3σ）*2 | 反射率測定 | 使用10×、20×物鏡時 | ±0.02[%]以下（430-1010nm）、 ±0.2[%]以下（上述以外） | ±1.25[%]以下（430-1010nm）、 ±5.0[%]以下（左側(cè)記載除外） | |
| 使用40×物鏡時 | ±0.05[%]以下（430-950nm）、 ±0.5[%]以下（上述以外） | ||||
| 厚膜測定 | ±1% | - | |||
| 波長顯示分解能 | 1nm | ||||
| 照明附件 | 鹵素燈光源 JC12V 55W（平均壽命700h） | ||||
| 位移受臺 | 承載面尺寸：200(W)×200(D)mm 承重：3 kg 工作范圍：(XY) ±40mm, (Z)125mm | ||||
| 傾斜受臺 | － | 承載面尺寸： 140(W)×140(D)mm 承重： 1 kg 工作范圍：(XT) ±1°, (YT) ±1° | |||
| 裝置質(zhì)量 | 主體：約26 kg（PC除外） | 主體：約31 kg（PC除外）*3 | |||
| 控制電源箱：約6.7kg | |||||
| 裝置尺寸 | 主體部位：360(W)×446(D)×606(H)mm | 主體部位：360(W)×631(D)×606(H)mm | |||
| 控制電源箱：250(W)×270(D)×125(H)mm | |||||
| 電源規(guī)格 | 輸入規(guī)格：100-240V (110VA) 50/60Hz | ||||
| 使用環(huán)境 | 水平無振動的場所 溫度：15～30℃ 濕度：15～60％RH（無結(jié)露） | ||||
*1 選件組件 *2 本社測定條件下的測定 *3 裝配透過率測定套件與45度反射測定套件的總重量為33kg。
| 對物鏡 | |||
| 型號 | USPM-OBL10 | USPM-OBL20 | USPM-OBL40 |
| 倍率 | 10x | 20x | 40x |
| NA | 0.12 | 0.24 | 0.24 |
| 測定范圍*4 | 70μm | 34μm | 17μm |
| 工作距離 | 14.3mm | 4.2mm | 2.2mm |
| 樣品的曲率半徑 | ±5mm～ | ±1mm～ | ±1mm～ |
*4 點徑
使用一臺即可進行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測定。
測定以物鏡聚光的Φ17~70μm的微小點的反射率。
 反射率測定光路圖 | |
 反射率測定例：鏡片 |  反射率測定例：鏡片周邊部位 |
 膜厚測定的圖例 | 活用反射率數(shù)據(jù)，測定約50nm~約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。 |
 物體色的測定圖例 | 根據(jù)反射率數(shù)據(jù)顯示XY色度圖、L*a*b*色度圖及相關(guān)數(shù)值。 |
從受臺下部透過Ø2mm的平行光，測定平面樣品的透過率。
 透過率測定光路圖 |
從側(cè)面向45度面反射Ø2mm的平行光，測定其反射率。
 45度反射率測定光路圖 |
 光學系圖 | 使用平面光柵及線傳感器進行全波長同時分光測定，從而實現(xiàn)高速測定。 |
 反射率測定圖例 | 新設計了可以在Ø17~70μm的測定區(qū)域中進行非接觸測定的物鏡。通常的分光光度計不能進行測定的細小電子部件或鏡片等的曲面，也可以實現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。 |
 消除背面反射光的原理 | 將物鏡與環(huán)形照明組合，不需要進行被檢測物背面的防反射處理，就可測定zui薄0.2mm的反射率*。*使用40×物鏡時，在本公司的測定條件下進行測定。 |
根據(jù)測定的分光反射率數(shù)據(jù)進行單層膜或多層膜的膜厚解析。可以根據(jù)用途選擇*的測定方法。
 峰谷法膜厚解析經(jīng)過信息圖例 | 這是一種根據(jù)測定的分光反射率值的峰值與低谷的周期性計算出膜厚的方法，對于測定單層膜是有效的。不需要復雜的設置，可以簡單地求出。 |
 傅里葉轉(zhuǎn)換法膜厚解析經(jīng)過信息圖例 | 這是一種根據(jù)測定的分光反射率值的周期性計算膜厚的方法，對于單層膜及多層膜的測定有效。難以檢測出峰值及低谷等時，可以幾乎不受噪音的影響進行解析。 |
 曲線調(diào)整法膜厚解析經(jīng)過信息圖例 | 這是一種通過推算測定的分光反射率值與根據(jù)某種膜構(gòu)造計算的反射率的差達到zui小的構(gòu)造計算出膜厚的方法，對于單層膜及多層膜的測定有效。還可以進行不會出現(xiàn)峰值及低谷的薄膜解析。 |
高速、高精度地應對多樣化測定需求。
 | 數(shù)碼相機鏡片 投影儀鏡片 光讀取頭鏡片 眼鏡片 |
 | LED包裝 半導體基板 |
 | 液晶彩色濾鏡 光學薄膜 |
 | 棱鏡 反射鏡 |
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