（2手）掃描電鏡SEM+EDX分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（EDS），統合于一體。結構緊湊的EDS由顯微鏡主體系統的電腦控制，操作員只用一只鼠標，就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。

（2手）掃描電鏡SEM+EDX操作窗口

直觀的操作界面的設計，簡明易懂便于迅速掌握操作。

日本JEOL掃描電子顯微鏡JSM-6510（SEM)支持多用戶

單個用戶可以根據常用功能設置相應的圖標，營造快捷的操作環境。用戶登錄時，即可加載已注冊過的設定。

日本JEOL掃描電子顯微鏡JSM-6510（SEM)同時顯示兩幅圖像

畫面上并列顯示二次電子成像和背散射電子成像這兩種實時圖像。可同時觀察樣品的形貌和組成分布。

日本JEOL掃描電子顯微鏡JSM-6510（SEM)維護簡便

工廠預置中心燈絲，十分便于更換。因此，可長期保持穩定的高性能。此外，操作界面還能以映像形式顯示燈絲維護的步驟說明。

日本JEOL掃描電子顯微鏡JSM-6510（SEM)可信賴的真空系統

真空系統使用高性能的擴散泵保證了潔凈的高真空狀態。擴散泵內部無活動部件，體現了操作穩定，維護簡便的特色。

（2手）掃描電鏡SEM+EDX:技術參數

分辨率 3.0nm（30kV）
8.0nm（3kV）
15nm（1kV）
放大倍數 5至300,000x
加速電壓 0.5kV至30kV
電子槍 工廠預對中燈絲
聚光鏡 變焦聚光鏡
物鏡 錐形物鏡
樣品臺 全對中樣品臺
X-Y 80mm-40mm
Z 5mm至48mm
旋轉 360°
傾斜 －10°至＋90°
排氣系統
（高真空模式） DPx1，RPx1
排氣系統
（低真空模式） DPx1，RPx2

掃描電子顯微鏡主要特點

　　1.強大的電子光學系統，簡單操作

　　I　設計的超級圓錐型物鏡，保證3nm的分辨率。很容易得到高質量照片。

　　II　廣域掃描線圈可以得到低5倍的放大倍數從而提高觀察樣品的效率。

　　III　電子光學系統可以在大束流下形成小束斑，有利于微區分析。

　　2.高分辨率

　　I　JSM6510系列超級圓錐形物鏡，在工作距離8mm時的分辨率為3nm，超級圓錐形物鏡

　　2的外形設計可以做到短工作距離情況下樣品仍然可以大角度傾斜。

　　3.全自動電子槍

　　2　I　JEOL開發的全自動電子槍能夠產生極小電子束源，只要選擇好加速電壓，就可以進行觀察或成分分析。

　　II　電子槍偏壓是調節電子槍亮度的重要部件。JEOL的無縫自給加壓系統能隨著電壓變化隨時調整偏壓，使得無論選擇哪個加速電壓，都能得到亮度。

　　III　JEOL*的像散記憶功能能夠自動糾正隨加速電壓或工作距離改變而產生的像散。

　　

　　1KV　5KV

　　

　　10KV　20KV

　　4.多圖顯示模式

　　3　I　主顯示區可以同時顯示兩幅實時圖像，分別為二次電子像和背散射電子像，參考區也可顯示2幅實時圖像，例如二次電子圖像，背散射電子圖像或CCD相機圖像。

　　II　雙實時顯示模式可以用于不同信號圖像的對比，用戶可在觀察表面形貌的同時了解樣品的成份分布情況。

　　III　選用多種圖像顯示模式時，點擊“PHOTO"按紐可同時獲得并存儲2或3幅全屏尺度圖像。

　　5.簡單易懂的操作接口及菜單

　　I　操作接口簡單，直觀，默認的操作接口顯示了常用的功能按鈕，并以簡單圖文標明，點擊鼠標即可操作所有功能。

　　II　實時量測，圖片上的長度和角度等結構細節能在顯示器上進行測量。

　　6.可變焦聚光鏡修正

　　I　做表面觀察和元素分析等不同應用時，選擇合適束流非常重要，一般是通過聚光鏡與物鏡光闌來控制電子束流的。如果在調整束流過程中，焦點和觀察區域位移變化很小，調整起來會比較方便。JEOL*的可變焦聚光鏡可以保證這一點。