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產品簡介
二手ZEISS-FEI掃描電鏡掃描電子顯微鏡作為一種強大的微觀分析工具，能夠實現對樣品表面形貌的高分辨率觀察，為材料科學、生物醫學、地質學等多個領域的研究提供了強大的技術支持。以其出色的分辨率和廣泛的放大倍數范圍，能夠滿足不同研究領域的精細觀察需求。
詳細介紹
二手ZEISS-FEI掃描電鏡：蔡司SEM掃描電鏡采用了先進的電子顯微技術，能夠在納米級別對樣品進行高分辨率的觀察和檢測。無論是科研實驗室、醫療機構、還是工業生產車間，蔡司掃描電鏡都能提供觀察能力和分析效果。
蔡司SEM掃描電鏡的主要優點：
1.高分辨率：蔡司掃描電鏡配備了高穩定的電子槍和先進的成像系統，能夠提供高達數百萬像素的分辨率，清晰地呈現出樣品的細節和特征。
2.多種觀察模式：蔡司SEM掃描電鏡支持多種觀察模式，如表面形貌觀察、元素分析、晶體結構解析等，滿足不同領域的研究和檢測需求。
3.自動化操作：蔡司掃描電鏡配備了先進的自動化操作系統，能夠實現自動對焦、圖像采集、數據分析等，提高工作效率和準確性。
4.實時圖像處理：蔡司SEM掃描電鏡支持實時圖像處理功能，能夠對采集到的圖像進行多種后期處理和分析，如對比度調整、濾波、測量等。
二手ZEISS-FEI掃描電鏡：電鏡參數
二、掃描顯微鏡（蔡司）EVO MA 15/LS 15技術參數
1、分辨率：2.0nm @ 30KV(SE with Lab6 option) 3.0nm @ 30KV(SE and W) 4.5nm @ 30KV(VP with BSD)
2、加速電壓：0.2—30KV
3、放大倍數：5—1000000x
4、視野范圍：6mm
5、X-射線參數：8.5mm WD，35度接收角
6、壓力范圍：10—400Pa (LS15:10-3000Pa)
7、工作室：365mm(φ)×275mm(h)
8、5軸優自動樣傯ǎ篨=125mm Y=125mm Z=50mm T=0-90°R=360°
9、試樣高度：145mm，試樣直徑：250mm
10、系統控制：基于Windows XP 的SmartSEM
三、掃描顯微鏡（蔡司）EVO MA 15/LS 15主要特點
1、能在可變壓力下操作
2、X射線和EBSD分析
3、快速抽真空
4、未來的保證，可升級在高壓和水蒸氣下成像和分析
5、高亮度LaB6資源選擇
6、光線套選擇
7、可移動大平臺
四、掃描顯微鏡（蔡司）EVO MA 15/LS 15技術優勢
1、在z軸上可機動化的移動50毫米并且在X和y軸上可移動125毫米
2、樣本高度增加到145毫米
3、改進了低真空圖像
4、X-射線分析技術
