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篤摯儀器（上海）有限公司
中級(jí)會(huì)員·10年
菲希爾Couloscope CMS2電解測(cè)厚儀
| 參考價(jià): | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- 產(chǎn)品型號(hào)
- Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 上海市 所在地
訪問次數(shù)：732更新時(shí)間：2024-09-22 10:48:19
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- www.fischerchina.cn
- 網(wǎng)址：
- www.dooz17.com/
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子,冶金,航天,汽車 |
通過電位差測(cè)試儀器可以簡(jiǎn)便的對(duì)鎳鍍層之間的電化學(xué)的電位差進(jìn)行測(cè)量。 可以用于測(cè)量銅基層、鎳多層涂層和鉻涂層的厚度。該儀器理想的適用于測(cè)量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測(cè)試方法的場(chǎng)合。
產(chǎn)品介紹
菲希爾Couloscope CMS2測(cè)厚儀Fischer代理
菲希爾Couloscope CMS2測(cè)厚儀Fischer代理
Fischer菲希爾Couloscope CMS2測(cè)厚儀簡(jiǎn)單介紹：
Fischer菲希爾Couloscope CMS2測(cè)厚儀 （庫(kù)侖測(cè)量系統(tǒng)）使用庫(kù)侖方法測(cè)量鍍層厚度。配備了一個(gè)大的，易讀取的液晶顯示器，直觀的菜單指引系統(tǒng)，該儀器理想的適用于測(cè)量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測(cè)試方法的場(chǎng)合。
Fischer菲希爾Couloscope CMS2測(cè)厚儀 地測(cè)量范圍在0.05 - 40 µm （0.002 - 1.6 mils）之間的金屬鍍層。該設(shè)備可以存儲(chǔ)上百條預(yù)先定義好的鍍層/基材應(yīng)用，從單鍍層，例如鋅在鋼上，直至三鍍層，例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。
電解測(cè)厚儀又叫做庫(kù)侖法測(cè)厚儀，應(yīng)用于電鍍層的測(cè)厚。電解測(cè)厚儀可以解決裝飾鉻層測(cè)厚、鎳層測(cè)厚、銅層測(cè)厚、鋅層測(cè)厚、錫層測(cè)厚、銀層測(cè)厚、金層測(cè)厚、鎘、硬鉻、化學(xué)鎳、多層鎳等鍍層測(cè)厚問題。電解測(cè)厚儀具有測(cè)試多層復(fù)合測(cè)量模式等特點(diǎn)，適用于汽車摩托車、航空航天、自行車、電器、日用五金、潔具衛(wèi)浴、塑膠電鍍、釹-鐵-硼、標(biāo)準(zhǔn)件等行業(yè)及技術(shù)監(jiān)督部門及科研機(jī)構(gòu)。
典型應(yīng)用領(lǐng)域
該儀器幾乎可以測(cè)量金屬或非金屬基材上的任何一種金屬鍍層。 甚至可以測(cè)量多層鍍層.
測(cè)量幾乎所有金屬鍍層厚度，無(wú)論基材是金屬或非金屬，鍍層也可以是多鍍層。典型的可測(cè)量厚度范圍 0.05 – 40 μm。 也適用于線材上鍍層的測(cè)量
標(biāo)準(zhǔn)：DIN EN ISO 2177 ； ASTM B504
大屏幕點(diǎn)陣液晶顯示屏，可顯示文字與圖形：126 * 70 mm
可設(shè)置和儲(chǔ)存：50個(gè)應(yīng)用程式、600個(gè)數(shù)據(jù)組；3 000個(gè)數(shù)據(jù)
統(tǒng)計(jì)：平均值、zui大值、zui小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、測(cè)量次數(shù)、Cp、Cpk 和直方圖
使用多層菜單和軟鍵，使操作更方便
RS232 接口可通過電纜和傳輸軟件將數(shù)據(jù)傳到 PC
模擬輸出： 0 ～ -18V
輸入阻抗： ＞ 2 KΩ
工作溫度： 10 ℃ ～ 40 ℃
儀器重量： 6 kg
電源： AC 220 V ，50-60 Hz；zui大功耗 ≤ 85 VA
尺寸： 350W * 140H * 200D mm
Benchtop unit for coulometric coating thickness measurement of virtually all metallic coatings on metallic or nonmetallic substrates; of individual layers or multi-layers.
Fischer菲希爾Couloscope CMS2測(cè)厚儀 根據(jù)庫(kù)侖電量分析法進(jìn)行測(cè)量，符合 DIN EN ISO 2177、50022 和 ASTM B764標(biāo)準(zhǔn)
通過電位差測(cè)試儀器可以簡(jiǎn)便的對(duì)鎳鍍層之間的電化學(xué)的電位差進(jìn)行測(cè)量。 可以用于測(cè)量銅基層、鎳多層涂層和鉻涂層的厚度。
COULOSCOPE CMS
該多層鎳測(cè)厚儀器根據(jù)庫(kù)侖電量分析法進(jìn)行測(cè)量，符合 DIN EN ISO 2177、50022 和 ASTM B764標(biāo)準(zhǔn)
Fischer菲希爾Couloscope CMS2測(cè)厚儀 特點(diǎn)
庫(kù)侖析法電解鍍層，符合 DIN EN ISO 2177標(biāo)準(zhǔn)
V18測(cè)量臺(tái)通過控制氣泵具有自動(dòng)充填和清空測(cè)量槽中電解液功能
大幅液晶顯示屏便于操作和顯示測(cè)量結(jié)果
相關(guān)產(chǎn)品
