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高分辨粒度儀的校準方法
高分辨粒度儀主要用于測量納米材料的粒徑和粒度分布，其應用廣泛。
校準方法：
1.確保儀器光學系統工作正常。光學窗口是激光粒度分析儀器重要的組成部分，因此測試前應保證光學窗口內外表面光潔，無劃痕，清潔，無缺損。光學基準譜平滑依次過渡，無明顯突起或凹陷。
2.外界條件對儀器的影響。外界條件主要包括環境的濕度，溫度和電源電壓的波動對儀器測試結果的影響。
3.儀器測量重復性。將儀器預熱到規定時間，采用一種國家標準物質進行多次測試，一般測試樣品6～10次，記錄每次D50，計算測量平均值，標準偏差和相對標準偏差。
4.儀器測量相對誤差。與儀器重復性測量不同的是，儀器相對誤差的測試要采用至少三種樣品以上的國家標準物質進行測試，每種樣品獨立測量3次并分別求其平均值，獲得多個粒度測量的平均值，分別計算儀器測量平均值與粒度表標準物質標準值間的相對誤差。
5.儀器分辨力。儀器分辨力的判斷是采用測試兩種樣品混合測試的方法，兩種粒度標準物質的移取量要根據其質量濃度而定，確保混合后的樣品中標準物質的質量濃度比為1:2，將樣品混合均勻后加入儀器進行測量。應能夠從儀器測量粒度分布曲線圖中能夠觀察出2個獨立不相連的峰形，則認為雙峰已分。