 |
篤摯儀器（上海）有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀 |
會(huì)員.png)
8
聯(lián)系電話
|
篤摯儀器（上海）有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀 |
聯(lián)系電話
| 參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間：2024-08-30 07:30:27瀏覽次數(shù)：1541
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
| 測(cè)定材料 | 金屬硬度計(jì) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器類型 | 便攜式 |
EQUOTIP 550 硬度計(jì)瑞士*
結(jié)合 Equotip Portable Rockwell 探頭，Equotip 550 可使用傳統(tǒng)的洛氏硬度靜態(tài)檢測(cè)法。 這將能夠在 現(xiàn)場(chǎng)自動(dòng)將 Leeb 關(guān)聯(lián)至 Portable Rockwell 的實(shí)際壓痕硬度值。
新一代 Equotip 觸摸屏裝置提供由行業(yè)專家精心設(shè)計(jì)的界面，提高了檢測(cè)效率和改善用戶體驗(yàn)。 改進(jìn)的軟件可提供互動(dòng)向?qū)А⒆詣?dòng)驗(yàn)證進(jìn)程、個(gè)性化選項(xiàng)和自定義報(bào)告功能。 此外，該儀器可兼容后續(xù)開發(fā)產(chǎn)品。
1.里氏硬度計(jì)（Dietmar Leeb）
里氏硬度是根據(jù)的里氏硬度測(cè)試原理利用的微處理器技術(shù)設(shè)計(jì)而成。
2.布氏硬度（HB）以一定的載荷（一般3000kg）把一定大小（直徑一般為10mm）的淬硬鋼球壓入材料表面，保持一段時(shí)間，去載后，負(fù)荷與其壓痕面積之比值，即為布氏硬度值（HB），單位為公斤力/mm2 (N/mm2）。
3.洛氏硬度計(jì)
（HR）當(dāng)HB>450或者試樣過小時(shí)，不能采用布氏硬度試驗(yàn)而改用洛氏硬度計(jì)量。它是用一個(gè)頂角120°的金剛石圓錐體或直徑為1.59、3.18mm的鋼球，在一定載荷下壓入被測(cè)材料表面，由壓痕的深度求出材料的硬度。根據(jù)試驗(yàn)材料硬度的不同，分三種不同的情況
HRA：是采用60kg載荷和鉆石錐壓入器求得的硬度，用于硬度*的材料（如硬質(zhì)合金等）。
HRB：是采用100kg載荷和直徑1.58mm淬硬的鋼球，求得的硬度，用于硬度較低的材料（如退火鋼、鑄鐵等）。
HRC：是采用150kg載荷和鉆石錐壓入器求得的硬度，用于硬度很高的材料（如淬火鋼等）。
4. 維氏硬度（HV）
以120kg以內(nèi)的載荷和頂角為136°的金剛石方形錐壓入器壓入材料表面，用載荷值除以材料壓痕凹坑的表面積，即為維氏硬度值（HV）。
5 努氏硬度(HK)
適用于高硬度材料的硬度測(cè)試（一般HV1000硬度以上的硬度測(cè)量）。
6.還有肖氏硬度計(jì)
7.韋氏硬度計(jì)（HW）
適用于鋁合金類產(chǎn)品的韋氏硬度值測(cè)量。
8 石膏硬度計(jì)
適用于建筑石膏硬度測(cè)量，將鋼球置于試件上，測(cè)量在固定荷載作用下球痕的深度，經(jīng)計(jì)算得出試件的石膏硬度。
以上硬度只是常用的幾種，另外還有肖氏（HS）硬度、邵氏（HS）硬度、巴氏硬度、摩氏硬度等。實(shí)踐證明，金屬材料的各種硬度值之間，硬度值與強(qiáng)度值之間具有近似的相應(yīng)關(guān)系。因?yàn)橛捕戎凳怯善鹗妓苄宰冃慰沽屠^續(xù)塑性變形抗力決定的，材料的強(qiáng)度越高，塑性變形抗力越高，硬度值也就越高。
Equotip 550可以作為設(shè)備*定制，并可同時(shí)顯示三種不同的測(cè)量視圖。 只需點(diǎn)擊與每個(gè)屏幕右上角的特定顯示相關(guān)的圖標(biāo)即可切換每個(gè)視圖以滿足用戶的要求。
信號(hào)視圖：顯示上一次有效測(cè)量的探頭信號(hào)。這對(duì)于評(píng)估可能是有用的。
統(tǒng)計(jì)視圖：查看主動(dòng)測(cè)量系列的統(tǒng)計(jì)信息。
影響數(shù)（n），平均值（x），標(biāo)準(zhǔn)偏差（σ），zui小值/zui大值（?）和范圍（?）顯示在主刻度中。
表格視圖：以表格格式顯示活動(dòng)系列的測(cè)量。
轉(zhuǎn)換視圖：顯示轉(zhuǎn)換曲線上的實(shí)際值。
條形圖：將直方圖顯示為系列的尺寸。
配置文件視圖：將測(cè)量結(jié)果顯示為配置文件。
信息：顯示測(cè)量設(shè)置，例如系列長(zhǎng)度，探頭類型，材料組等
用戶視圖：用戶可以選擇探頭角度，zui小值，zui大值，范圍和探頭類型。要更改，請(qǐng)點(diǎn)擊每個(gè)單獨(dú)的框。
HL單記錄視圖：顯示主要和次要硬度標(biāo)度的zui后一個(gè)或選定的測(cè)量結(jié)果。
ID + Sample ID：定義自定義字段。
文件名：輸入文件名并點(diǎn)擊返回。 保存的測(cè)量將被自動(dòng)存儲(chǔ)。 如果文件管理激活，則此功能被鎖定。
影響方向：如果需要手動(dòng)設(shè)置影響方向（僅限Leeb，默認(rèn)情況下為自動(dòng)）。
材質(zhì)：選擇要用于轉(zhuǎn)換的材料組（不適用于Leeb U）
測(cè)量刻度：選擇要顯示的硬度刻度（主要和次要）（不適用于Leeb U）
測(cè)量模式：在測(cè)量和轉(zhuǎn)換之間切換。
時(shí)間和電池狀態(tài)
設(shè)置：直接設(shè)置菜單的快捷方式。 （僅適用于實(shí)際測(cè)量系列）
保存：存儲(chǔ)測(cè)量數(shù)據(jù)
刪除：刪除zui后一次測(cè)量。
重做：重新開始測(cè)量系列或單次測(cè)量。
向?qū)?/strong>：直接訪問向?qū)А?/span>
