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篤摯儀器（上海）有限公司
主營產品： 美能達色差計,尼克斯測厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測厚儀,防夾力測試儀 |
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| 參考價 | 面議 |
更新時間：2024-08-31 13:56:19瀏覽次數：998
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| 價格區間 | 面議 |
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上海庫侖電解測厚儀Couloscope CMS2 STEP
-----庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差
【簡單介紹】
COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差
使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度，庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。這個方法主要應用于檢查電鍍層的質量，現在也適用于監控印刷線路板剩余純錫的厚度。
COULOSCOPE® CMS2 STEP
CMS2 STEP 的特征是STEP測試功能（同時測定厚度和電位差）。 在多層鎳的質量監控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化STEP測試 （根據ASTM B764-94和DIN 50022）。鍍層厚度根據庫侖法得出， 而電位差則由一個鍍有AgCl的銀電極得到。
COULOSCOPE® CMS2
CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結構; 它的工作原理是根據陽極溶解的庫侖法 （DIN EN ISO 2177）。 簡單的操作和菜單化的操作指導使CMS2成為電鍍行業生產監控和質量檢驗理想的解決方法。設備為不同的鍍層結構配備了近100個預留的應用程式（例如，鐵上鍍鋅，黃銅上鍍鎳）, 以及各種電解速度（例如1, 2, 5, and 10 μm/min）。這些應用程式適用于多鍍層系統。
| 序號 | 描述 | 規格型號 | ||
| 01 | 庫侖測厚儀 CMS2 STEP 采用庫侖方法的鍍層測量儀，有中文操作系 統，并且可以測量多層鎳厚度及電位差。大 LCD 顯示器；帶鍵盤；預先定義大約 100 種常 用金屬鍍層；50 條存儲記錄用于特定應用的 參數和 3000 個測量值。該價格包括電源電 纜，塑料灰塵罩及操作手冊。 | 605-087 | ||
| 02 | V24 測量臺 | 600-782 | ||
| 03 | 庫侖標準片 STEP 光亮鎳：6 μm 左右 半光亮鎳：10 μm 左右 測量面積：60 mm×50 mm 分隔為 25 個方形區域 分別標定帶證書 | 605-008 | ||
| 04 | 庫侖法電解液 F22 1L 因受溫度影響，使用前請將 PH 值調到 2.9 左 右。 | 603-547 | ||
| 05 | 庫侖標準片 Cu/Fe 10-15um Cu：10 - 15 μm 測量面積：60 mm×50 mm 分隔為 25 個方形區域 分別標定帶證書 | 605-001 | ||
| 06 | 庫侖法電解液 F4 1L （國內提供） | 600-822A | ||
| 07 | 庫侖標準片 Ni/Cu 6-9um Ni：6 - 9 μm 測量面積：60 mm×50 mm 分隔為 25 個方形區域 分別標定帶證書 | 605-004 | ||
| 08 | 庫侖法電解液 F6 1L （國內提供） | 600-823A | ||
| 09 | 庫侖標準片 Cr /Fe,Ni,Al Cr：0.1-0.3 μm 測量面積：60 mm×50 mm 分隔為 25 個方形區域 分別標定帶證書 | 604-996 | ||
| 10 | 庫侖法電解液 F1 1L （國內提供） | 600-820A | ||
| 11 | 小臺虎鉗 | 600-800 | ||
COULOSCOPE® CMS2的特征
大尺寸高分辨率的彩色顯示器
簡單的操作和圖示的用戶指導
使用V18支架實現半自動化測量
電解速度和測量面積的簡單選擇 （0.1 ----- 50 μm/min） 和（0.6 ----- 3.2 mm Ø）
電壓曲線圖形顯示
圖形和統計分析 多語言和計量單位可供選擇
COULOSCOPE® CMS2 STEP的特殊功能
同時測量鍍層厚度和電位差
銀參比電極的簡單準備
可調節的電解電流
COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位系統概述 一個測量系統包括COULOSCOPE® CMS2或CMS2 STEP和一個有測量槽的支架（例如：STEP測量槽）。各種測量臺設計適合不同的應用。 可選配件 大量的可選配件使測量工作更便利，確保了安全的儲存并為固定工件提供輔助。校準 校準時會產生一個修正系數 。這是由于測量槽密封墊子的制造公差、鍍層密度的變化、合金成分的變化，需要該修正系數。
