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篤摯儀器（上海）有限公司
主營產(chǎn)品： 美能達(dá)色差計,尼克斯測厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測厚儀,防夾力測試儀 |
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更新時間：2024-09-01 16:03:20瀏覽次數(shù)：965
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| 價格區(qū)間 | 面議 |
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德國尼克斯涂層測厚儀 QNix®4200/4500
一、簡介：
德國尼克斯 QNIX 涂層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等) 及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。
注：磁性金屬元素有鐵、鈷、鎳及鑭系元素。
德國尼克斯 QNIX 涂層測厚儀特點：
零位穩(wěn)定：所有涂層測厚儀測量前都要求校準(zhǔn)零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測量準(zhǔn)確的前提。一臺好的測厚儀校零后，可以長時間保持零位不漂移，確保準(zhǔn)確測量。
無需校準(zhǔn)：多數(shù)涂層測厚儀除了校零外，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進行調(diào)校。測量某一范圍厚度，要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。尼克斯涂層測厚儀可以滿足全量程范圍內(nèi)數(shù)值準(zhǔn)確
溫度補償：涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測量會得出很大的誤差。所以好的測厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補償技術(shù)，以保證不同溫度下的測量精度。
紅寶石探頭：探頭接觸點的耐磨性直接影響測量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會帶來很大的誤差。
*的直流采樣技術(shù)：使得測量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有*的*和提高。
單探頭量程大：0－5mm QNix®4200（含 QNix®4200、QNix®4200/5、QNix®4200P、QNix®4200P5）可
測量磁性金屬表面非磁性涂鍍層厚度。（Fe）QNix®4500（含 QNix®4500、QNix®4500/5/QNix®4500P、QNix®4500P5 可測量磁性金屬表面非磁性涂鍍層厚度及非磁性金屬表面非導(dǎo)電涂層厚度。（Fe/NFe雙用）
標(biāo)準(zhǔn)：符合 ISO 2178,2360,2808 及 ASTM B 499,D709 標(biāo)準(zhǔn)
二、技術(shù)參數(shù)：
型號 一體/分體 量程 基體
QNix®4200 一體 Fe：0-3000μm Fe
QNix®4200P 分體 Fe：0-3000μm Fe
QNix®4200/5 一體 Fe：0-5000μm Fe
QNix®4200P5 分體 Fe：0-5000μm Fe
QNix®4500 一體 Fe/NFe：0-3000μm Fe/NFe 雙用
QNix®4500P 分體 Fe/NFe：0-3000μm Fe/NFe 雙用
QNix®4500/5 一體 Fe：0-5000μm Fe/NFe 雙用
NFe：0-3000μm
QNix®4500P5 分體 Fe：0-5000μm Fe/NFe 雙用
NFe：0-3000μm
三、儀器使用：
1.開機：
裝入電池后按紅色按鍵或?qū)x器探頭垂直接觸被測物體表面并壓實，儀器將自動開機。（使用時務(wù)必要使探頭垂直接觸被測物表面并壓實，禁止接觸狀態(tài)下橫向滑動探頭，以免劃傷探頭前端紅寶石。每次測量后將儀器拿起，離開被測物10cm 以上，再進行下次測量。）
2.設(shè)置：
開機后按紅色按鍵進入菜單，QNix®4500 為 4 個選項，QNix®4500 為 2 個選項，見下圖
“Fe”為磁性金屬基體模式，“NFe”為非磁性金屬基體模式（僅 QNix®4500），“Fe/NFe”為自動識別基體模式（僅 QNix®4500），“取平均值”為儀器自動顯示后三次讀數(shù)的平均值（包括本次測量）。按紅鍵進入菜單后，繼續(xù)按紅鍵進行選擇，將光標(biāo)在選項上停留 2 秒后，進入所選項目。如在“Fe”選項上停留 2 秒后，儀器顯示如下：這時儀器進入 Fe（磁性金屬基體）模式下工作。QNix®4500 也可選擇 NFe（非磁性金屬基體）、Fe/NFe（磁性非磁性基體自動識別）模式下工作。進入“取平均值”選項后，儀器顯示如下在“開”選項上停留 2 秒后，取平均值開啟，測量時顯示數(shù)據(jù)為后三次讀數(shù)的平均值（包括本次測量），測量時在屏幕右上角出現(xiàn).“ X— ”符號時表示取平均值開啟，如不需要請關(guān)閉（在取平均值選項里選擇“關(guān)”）即可.
