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全新高性價比-3D三軸數字特斯拉計3MH4 參考價：面議
昊量光電全新推出的全新高性價比-3D三軸數字特斯拉計/高斯計3MH4。全新高性價比-3D三軸數字特斯拉計3MH4的精度、穩定性和適應性重新定義了磁場測量。
Metrolab 3軸磁傳感器芯片MagVector™MV2 參考價：面議
Metrolab 3軸磁傳感器芯片MagVector™MV2是將復雜的磁力計（一種測量磁通密度 (B) 或磁場強度 (H) 的儀器）集成到電子系統中...
非接觸式二維光譜顏色測量系統 參考價：面議
非接觸式二維光譜顏色測量系統昊量光電 AUT-SpectraEye 非接觸式 二維光譜測量系統（高光譜顏色測量系統）。
錐形光纖探針掃描系統 參考價：面議
錐形光纖探針掃描系統GalvoStation是一種單通道光電激光設備，錐形光纖探針 掃描系統設計用于使用Lambda Fibers進行空間選擇性光傳輸和收集。G...
Metrolab PT2026核磁共振高斯計 參考價：面議
Metrolab PT2026核磁共振高斯計是核磁共振高斯計PT2025的升級版，是目前市場上精度蕞高的核磁共振高斯計：在蕞佳條件下，PT2026可實現一億分之...
多自由度梯度磁場控制系統 參考價：面議
多自由度梯度磁場控制系統能夠產生各種各樣的靜態或時變磁場，用于研究磁場依賴現象，多自由度梯度 磁場控制系統也用于開發磁性微納米機器人以及其他微操作程序的應用。
30000精細度光纖F-P腔高速濾波器 參考價：面議
30000精細度光纖F-P腔高速濾波器（Fiber Fabry-Perot Tunable filter）是一種用于光學通信和光譜分析應用的光學設備。
阻抗分析儀LCR-1 參考價：面議
阻抗分析儀LCR-1是一種緊湊的高精度單通道LCR儀表，帶有自動測量和分析的軟件。可選設備與不同的測試適配器，阻抗分析儀用于測量電氣元件、箔、薄膜和液體等。
蛋白質 測序儀 參考價：面議
蛋白質 測序儀方法涉及在半導體器件上的納米級反應室中固定肽。染料標記的氨基當肽經歷逐步切割時，氨基酸識別受體和氨基肽酶進行N-末端氨基酸的檢測。蛋白質測序儀方法...
3軸手持式特斯拉計3MH1-便攜式可觸摸顯示 參考價：面議
3軸手持式特斯拉計3MH1-便攜式可觸摸顯示是一種易于使用的便攜式磁強計，用戶可使用它測量磁場的所有三個分量。
F3A模擬磁場傳感器/模擬高斯計F3B 參考價：面議
昊量光電全新推出的F3A模擬磁場傳感器/模擬高斯計F3B表示一系列磁場-電壓傳感器，帶有集成的三軸霍爾探頭。
高精度三軸數字工業用高斯計/特斯拉計3MH3 參考價：面議
昊量光電全新推出的高精度三軸數字工業用高斯計/特斯拉計3MH3帶有集成的 1 軸、2 軸、3 軸霍爾探頭的磁通密度測試儀集成了一個高精度磁通密度轉換為模擬電壓的...
成像式亮度色度計 參考價：面議
成像式亮度色度計在Bayer型芯片的基礎上通過校正來實現影像式快速亮度色度分布信息，高像素為測試提供了高分辨率細節。
多電極陣列阻抗測量 參考價：面議
多電極陣列阻抗測量可以獲得一個簡單且經過驗證的解決方案來處理這些測量，而無需任何笨拙的自定義布線設置、手動通道切換或復雜的第三方多路復用器集成在自制芯片適配器上...
MMS-1A-RS三維磁場成像測繪系統 參考價：面議
MMS-1A-RS三維磁場成像測繪系統是設計用于精確測量呈現軸向和徑向多極磁化的永磁或電磁體設備（如轉子或定子）產生的磁場。
nT納特斯拉計-3NTA2 參考價：面議
昊量光電全新推出的nT納特斯拉計-3NTA2是一種基于高磁分辨率各向異性磁阻 (AMR) 傳感器的高性能磁場測量儀器。
生物電阻抗分析儀 參考價：面議
ISX-3是一款高速高精度且低成本的阻抗分析儀。標準配置的ISX-3配備了Sciospec的IF前端，具有4端口BNC接口，支持簡單的2點測量，以及3和4電極配...
多通道高性能任意波形發生器AWG 參考價：面議
多通道高性能任意波形發生器AWG 6.16GS/s實時更新速率（RF模式下為12.32GS/s）和16位垂直分辨率。ArbRiderAWG-5000有2、4或8...
高頻任意波形發生器AWG 參考價：面議
高頻任意波形發生器AWG是多功能信號發生器，將三種功能結合在一個儀器中，包括函數發生器、任意波形發生器和數字模式發生器。
顯微鏡熒光校準片適用于寬視野/超分辨 參考價：面議
顯微鏡熒光校準片適用于寬視野/超分辨/共聚焦：Argolight 熒光質量校準片特殊的玻璃基板組成，內部嵌入不同的熒光圖案，旨在對熒光成像系統的許多方面進行質量...
微流控泵 參考價：面議
微流控泵適用于各種需要精確、穩定的流量輸送的微流體應用場合。微流體泵連接一個即插即用的流量傳感器，用于反饋和自動控制流量。
半導體參數分析儀RTM2-霍爾源測系統 參考價：面議
半導體參數分析儀RTM2-霍爾源測系統利用半導體參數分析儀RTM2的集成開關矩陣實現無限的精度和穩定性用于片狀、霍爾和電阻張量的測量。
三軸磁通門磁強計 參考價：面議
三軸磁通門磁強計可在±75µT至±1000µT的各種測量范圍內使用，帶寬高達6,000Hz，由PEEK或POM組件制成的...
SDTR熱反射廣域熱物性綜合測試系統 參考價：面議
SDTR熱反射廣域熱物性綜合測試系統數據分析方法使得測量信號僅對待測樣品的面內熱導率和比熱容敏感，而無需準確知道金屬傳感層的參數或樣品的縱向熱導率，因此極大提高...
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