ST2263型雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)-改進(jìn)形范德堡測(cè)量方法測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，它與單電測(cè)直線或方形四探針相比，大大提高度，特別是于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。   
      ST2263型雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)以及PC軟件等部分組成。      
      ST2263型主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成，USB通訊接口。儀器主機(jī)所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤(pán)和數(shù)碼開(kāi)關(guān)輸入；具有零位、滿度自校功能；測(cè)試功能可自動(dòng)/手動(dòng)方式；儀器操作可由配套軟件在PC機(jī)上操作完成，也可脫P(yáng)C機(jī)由四探針儀器面板上獨(dú)立操作完成。測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機(jī)數(shù)碼管直接顯示，也可連機(jī)由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印！  
     
     探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類(lèi)半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類(lèi)等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。  
     測(cè)試臺(tái)選配：一般四探針?lè)y(cè)試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測(cè)試臺(tái)。      
          詳見(jiàn)《四探針儀器、探頭和測(cè)試臺(tái)的特點(diǎn)與選型參考》點(diǎn)擊進(jìn)入  
      ST2263型具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測(cè)量簡(jiǎn)便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn)。  
     儀器于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類(lèi)半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試，特別是于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。  
三、基本技術(shù)參數(shù)      
3.1  測(cè)量范圍      
    電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm  
    方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□  
    電  阻：1×10-5～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω  
3.2  材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)決定和測(cè)試方式?jīng)Q定)  
    直    徑：SZT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm，手持方式不限  
    SZT-B/C/F方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm，手持方式不限.  
    長(zhǎng)(高)度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm,    手持方式不限.  
    測(cè)量方位: 軸向、徑向均可  
3.3.  4-1/2 位數(shù)字電壓表：  
    (1)量程： 20.00mV～2000mV  
    (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字  
3.4  數(shù)控恒流源  
   (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A  
   (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字  
3.5  四探針探頭（選配其一或加配全部）  
   (1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào)  
   (2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調(diào)  
3.6 電源      
   輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗：<20W  
3.7 外形尺寸：  
   主機(jī)  220mm（長(zhǎng)）×245 mm（寬）×100mm（高）

產(chǎn)品名稱(chēng)：數(shù)字式四探針測(cè)試儀 產(chǎn)品型號(hào)： ST2253

數(shù)字式四探針測(cè)試儀 型號(hào)： ST2253 
概述   
      ST2253型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。 

    儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)以及PC軟件等部分組成。 
    主機(jī)主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成，USB通訊接口。儀器主機(jī)所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤(pán)和數(shù)碼開(kāi)關(guān)輸入；具有零位、滿度自校功能；測(cè)試功能可自動(dòng)/手動(dòng)方式；儀器操作可由配套軟件在PC機(jī)上操作完成，也可脫P(yáng)C機(jī)由四探針儀器面板上獨(dú)立操作完成。測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機(jī)數(shù)碼管直接顯示，也可連機(jī)由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印！ 
     
    探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類(lèi)半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類(lèi)等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。配探頭，也可測(cè)試電池片等箔上涂層電阻率方阻。 
     
    測(cè)試臺(tái)選配：一般四探針?lè)y(cè)試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測(cè)試臺(tái)。二探針?lè)y(cè)試電阻率測(cè)試選SZT-K型測(cè)試臺(tái)，也可選配SZT-D型測(cè)試臺(tái)以測(cè)試半導(dǎo)體粉末電阻率，選配SZT-G型測(cè)試臺(tái)測(cè)試橡塑材料電阻率。 
      詳見(jiàn)《四探針儀器、探頭和測(cè)試臺(tái)的特點(diǎn)與選型參考》點(diǎn)擊進(jìn)入 
    儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測(cè)量簡(jiǎn)便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn)。 
    儀器于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類(lèi)半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。 
三、基本技術(shù)參數(shù) 
     
3.1  測(cè)量范圍 
     電  阻：1×10-4～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω 
    電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm 
    方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□ 
3.2  材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)和測(cè)試方式?jīng)Q定) 
     直    徑：SZT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm，手持方式不限 
    SZT-B/C/F方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm，手持方式不限. 
    長(zhǎng)(高)度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
    測(cè)量方位: 軸向、徑向均可 
3.3.  4-1/2 位數(shù)字電壓表： 
    (1)量程： 20.00mV～2000mV 
   (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字 
3.4 數(shù)控恒流源 
    (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A 
   (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字 
3.5 四探針探頭（選配其一或加配全部） 
    (1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào) 
   (2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調(diào) 
3.6. 電源 
    輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗：<20W 
3.7.外形尺寸： 
    主   機(jī)  220mm（長(zhǎng)）×245 mm（寬）×100mm（高） 
   凈   重：≤2.5kg

產(chǎn)品名稱(chēng)：砂漿干料流動(dòng)度測(cè)定儀（跳桌法） 干料流動(dòng)度測(cè)定儀 產(chǎn)品型號(hào)： NLD-4A

砂漿干料流動(dòng)度測(cè)定儀（跳桌法） 干料流動(dòng)度測(cè)定儀 型號(hào)： NLD-4A

本測(cè)定儀依據(jù)《客運(yùn)專(zhuān)線鐵路CRTSII型板式無(wú)砟軌道水泥乳化瀝青砂漿暫行技術(shù)條件》干料擴(kuò)展度試驗(yàn)方法試驗(yàn)要求設(shè)計(jì)生產(chǎn)，控時(shí)控轉(zhuǎn)準(zhǔn)確，滿足試驗(yàn)的需要。、
主要技術(shù)參數(shù)：
1、振動(dòng)部分總重量： 4.35k g±0.15 k g
2、振動(dòng)部分落差： 10mm ± 0.2 mm
3、振動(dòng)頻率： 1Hz
4、振動(dòng)次數(shù)： 15 次自停         
5，振動(dòng)時(shí)間；15S
6、凈重：≈ 20k g

產(chǎn)品名稱(chēng)：礦用本安手機(jī)KT110-S 產(chǎn)品型號(hào)：KT110-S

礦用本安手機(jī)KT110-S 型號(hào)：KT110-S 
主要技術(shù)指標(biāo)： 
電池類(lèi)型：可充電錳酸鋰電池；電池型號(hào)：hx-01 
電池規(guī)格：3.7v 750mah 
高開(kāi)路電壓≤ 4.2v 
大短路電流≤3.0a 
大工作電流：≤450ma 
待機(jī)電流：≤20ma 
發(fā)射功率：210mw；(50%～120%)