目錄:上海分析儀器銷售中心>>流變儀>>哈克流變儀HAAKE>> HAAKE Rheonaut流變紅外聯(lián)用單元
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更新時(shí)間：2024-08-16 10:30:00瀏覽次數(shù)：1120評(píng)價(jià)
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| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 旋轉(zhuǎn)流變儀 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,食品,生物產(chǎn)業(yè),農(nóng)業(yè),文體 |
Rheonaut 技術(shù)中采用了衰減總反射(ATR)的測(cè)量原理, 所得光譜結(jié)果與樣品厚度無(wú)關(guān)。在流變儀測(cè)量過(guò)程中固定的下平臺(tái)，裝入了一個(gè)對(duì)紅外透明的晶體。根據(jù)應(yīng)用的不同，可以提供不同的晶體和溫控結(jié)構(gòu)，Peltier半導(dǎo)體溫控單元(0 ~ 100°C)或電加熱溫控單元(室溫 ~ 400°C)。可以選配幾組偏振片，完成對(duì)入射紅外光在平行和垂直軸上的手動(dòng)或自動(dòng)控制起偏功能。
哈克流變紅外聯(lián)用單元優(yōu)勢(shì)和特點(diǎn)
● 在小應(yīng)變振蕩(SAOS)，大應(yīng)變振蕩模式(LAOS) 或剪切模式下同步獲得樣品紅外光譜和流變特性，在分子級(jí)結(jié)構(gòu)變化分析和解釋流變性能；
●制備的樣品和外在測(cè)試條件*相同，試驗(yàn)時(shí)間大大縮短
●HAAKE MARS專利集成技術(shù)
● 內(nèi)建ATR（衰減總反射）技術(shù)的單反射晶體(金剛石)和DTGS檢測(cè)器
●廣泛應(yīng)用于聚合物、化工、食品、藥品、涂料、化妝品等多個(gè)領(lǐng)域。
●控溫范圍：0 ~ 120°C (Peltier系統(tǒng)) 或 室溫 ~ 400°C(電加熱系統(tǒng))
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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