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5月18日—19日，由中國計量科學研究院主辦的波長色散X射線熒光光譜儀校準技術研討會在昆山順利召開，此次會議的召開是為進一步聽取各方及廠商對《波長色散X射線熒光光譜儀校準規范》制訂工作的意見。
會議邀請了行業學者、科研院所及該領域相關企業代表，就波長色散X射線熒光光譜儀技術發展趨勢、新進展、應用領域及校準技術等方面的問題進行了研討。
會議由天瑞公司波譜產品線負責人黃沖主持，并由天瑞儀器總經理應剛致歡迎詞，歡迎前來參會的老師及。
天瑞儀器總經理應剛致歡迎詞
會議現場
研討會上，意見征求互動環節現場氣氛熱烈，與會們針對《波長色散X射線熒光光譜儀校準規范》修訂內容，從各個角度出發，進行了認真研討，積極發表了自己的意見并提供了寶貴的建議。其中黃沖做了《波長色散 X 射線熒光光譜儀的企業校準方法介紹》的專題報告，詳細介紹了天瑞儀器公司過去十年波譜研發過程中所總結的波譜儀器測試方法，對比了《JJG 810-1993 波長色散X射線熒光光譜儀檢定規程》和《ISO_TR 18231-2016.9300》各自優缺點，供各位參考。
相信本標準的修訂，能有效促進該儀器的校準規范的升級和改進，繼而能更好的為市場服務。
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