當前位置:廣東天瑞儀器有限公司>>ROHS1.0&RoHS2.0測試儀>>RoHS有害重金屬檢測儀>> 磁性材料重金屬元素分析儀
磁性材料重金屬元素分析儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統,可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果,利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析,在冶煉過程控制中起到了測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
磁性材料重金屬元素分析儀 性能特點
高效超薄窗X光管,指標達到水平
新的數字多道技術,讓測試更快,計數率達到100000CPS,精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器,良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性,較高的峰背比
低能X射線激發待測元素,對Si、P等輕元素激發效果好
智能抽真空系統,屏蔽空氣的影響,大幅擴展測試的范圍
自動穩譜裝置了儀器工作的*性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片,免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解,使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線性回歸方法,使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(管壓、管流、真空度)一目了然
技術參數
產品型號:EDX 4500H
產品名稱:X熒光光譜儀
測量元素范圍:從鈉(Na)到鈾(U)
元素含量分析范圍: ppm—99.99%(不同元素,分析范圍不同)
同時分析元素:一次性可測幾十種元素
測量時間:30秒-200秒
探測器能量分辨率為:145±5eV
管壓:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
測量對象狀態:粉末、固體、液體
輸入電壓:AC 110V/220V
環境溫度:15℃-30℃
環境濕度:35%-70%
樣品腔體積:320mm×100mm
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
重量:65Kg
標準配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數字多道技術
光路增強系統
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩譜裝置
三重安全保護模式
可靠的整體鋼架結構
90mm×70mm的狀態顯示液晶屏
真空泵
X熒光光譜儀
型號:3600B
儀器介紹
EDX3600B X熒光光譜儀是利用XRF技術解決國內水泥廠、鋼鐵公司、粉末冶金企業等對復雜成份、多類型櫚中元素的快速、分析。該技術的主要特征為:利用低能X光激發待測元素,對Si、S、AI、Na、Mg、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、等元素有良好的激發效果,并且測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率; 采用UHRD探測器,具有良好的能量線性和能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比;采用自動穩譜裝置,了儀器工作的*性;利用解譜技術使譜峰分解,使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度;采用相似自動分類技術使分類更,有效地克服基效應對測量帶來的影響;采用多參數的線性回歸方法,使元素間的吸收、增強效應得到明顯的消除。
性能特點
的水泥、鋼鐵、礦料、粉末冶金、磁性材料等全元素分析,亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍。
針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
電制冷UHRD探測器,摒棄液氮制冷。
智能全元素分析軟件,與儀器硬件相得益彰,且操作簡單。
技術指標
測量元素范圍:從鈉(Na)鈾(U)
元素含量分析范圍:1ppm—99.99%
同時分析元素:24種元素同時分析
測量鍍層:鍍層厚度測量薄0.005微米,可分析5層以上的鍍層
分析精度:0.05%
測量對象狀態:粉末、固體、液體
測量時間:60s—200s
能量分辨率為:(150±5)eV
管壓:5KV—50KV
元素含量分析范圍:1ppm—99.99%
同時分析元素:24種元素同時分析
測量鍍層:鍍層厚度測量薄0.005微米,可分析5層以上的鍍層
分析精度:0.05%
測量對象狀態:粉末、固體、液體
測量時間:60s—200s
能量分辨率為:(150±5)eV
管壓:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
標準配置
電制冷UHRD探測器
信噪比增強器
光路增強系統
內置高清晰攝像頭
可自動切換型準直器和濾光片
的升降平臺
信噪比增強器
光路增強系統
內置高清晰攝像頭
可自動切換型準直器和濾光片
的升降平臺
加強的金屬元素感度分析器
應用領域
鋼鐵和有色金屬檢測
水泥檢測
礦料分析
粉末冶金成分分析
磁性材料半成品、成品在線控制
水泥檢測
礦料分析
粉末冶金成分分析
磁性材料半成品、成品在線控制
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