Thick8000X射線光譜分析儀 性能優勢

1.精密的三維移動平臺 
2.的樣品觀測系統 
3.的圖像識別 
4.輕松實現深槽樣品的檢測 
5.四種微孔聚焦準直器，自動切換 
6.雙重保護措施，實現無縫防撞 
7.采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度

全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動自檢、復位； 
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣； 
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦； 
直接全景或局部景圖像選取測試點； 
軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示結果。

 Thick8000X射線光譜分析儀 技術指標

分析元素范圍：硫（S）～鈾（U） 
同時檢測元素：多24個元素，多達5層鍍層
分析含量：一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）
SDD探測器：分辨率低135eV
的微孔準直技術：小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭 
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合 
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度：15℃～30℃

部分產品

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應用領域

X射線膜厚檢測儀廣泛應用于小螺絲、螺帽、螺栓、電子連接器、汽車配件、端子、PCB線路板、電子元器件等產品的金屬鍍層快速測量。