天瑞儀器X熒光光譜測厚儀  項       目 參        數 
測量元素范圍 Cl（17）-U（92） 
涂鍍層分析范圍 P（15）-U（92）可區分檢測電鍍鎳和化學鎳 
分析軟件 EFP，可同時分析23層鍍層，24種元素，不同層有相同元素也可分析 
軟件操作 人性化封閉軟件，自動提示校正和步驟，避免操作錯誤 
X射線裝置 W靶微聚焦加強型射線管 
準直器 ? 0.05 mm  ；? 0.1 mm；? 0.2 mm；? 0.5 mm；四準直器自動切換 
近測距光斑擴散度 10% 
測量距離 具有距離補償功能，可改變測量距離，能測量凹凸異型樣品，變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm) 
樣品觀察 1/2.5彩色CCD，變焦功能 
對焦方式 高敏感鏡頭，手動對焦 

放大倍數 光學38-46X，數字放大40-200倍 
  天瑞儀器X熒光光譜測厚儀樣品臺尺寸 500mm*360mm 
移動方式 高精密XY手動滑軌 
可移動范圍 50mm*50mm 
隨機標準片 十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um 
其它附件 聯想電腦一套、噴墨打印機、附件箱 
廠家介紹

X熒光測厚儀生產生產廠家——江蘇天瑞儀器股份有限公司，新款Thick 8000X熒光測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型鍍層膜厚測試儀器。主要應用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定； 、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測。金屬鍍層分析儀俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、XRF鍍層測厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等，主要用于精密測量金屬電鍍層的厚度。功能：精密測量金屬電鍍層的厚度；應用范圍：測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成。
測量范圍從22(Ti)到92(U);5 層 (4 鍍層 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;元素光譜定性分析;測試方法符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987