天瑞膜厚儀Thick800A,天瑞儀器 采用進口上的電制冷半導體探測器，能量分辨率更優于135eV，測試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補充液氮，操作使用更加方便，并且運行成本比同類的其他產品更低?？煽啃愿撸河捎跍y試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以，其測量的可靠性更高?？梢詽M足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統軟件，操作方便、功能強大，軟件可監控儀器狀態，設定儀器參數，并就有多種的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。性價比高：相比化學分析類儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優勢的，可以讓更多的企業和廠家接受。對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。

  天瑞膜厚儀Thick800A,天瑞儀器 是天瑞集多年的經驗，專門研發用金屬厚度檢測行業的一款x-ray膜厚儀，φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求；高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm；采用高度定位激光，可自動定位測試高度。定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊。鼠標可控制移動平臺，鼠標的位置就是被測點。
天瑞膜厚儀Thick800A技術指標
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
多次測量重復性可達0.1%
工作穩定性可達0.1%
度適應范圍為15℃30℃。
電源: 交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
標準配置
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
應用領域
，鉑，銀等貴金屬和各種飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和飾加工行業；銀行，飾銷售和檢測機構；電鍍行業。