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X射線鍍層厚度分析儀
探測器
● 類型:*高性能電致冷半導體探測器
● Be窗厚度:1mil
● 晶體面積:25mm2
● 分辨率:145eV
●信號處理系統:DP5
X射線管
●電壓:0-50v
●電流;2mA
●功率:50W
●靶材:Mo
●Be窗厚度:0.2mm
●使用壽命:大于2w小時
高壓電源
●輸出電壓:0-50Kv
●燈絲電流0-2mA
●功率:50w
●紋波系數:0.1%(p-p值)
●8小時穩定性:0.05%
攝像頭
●焦距:微焦距
●驅動:免驅動
●像素:500萬像素
準直器、濾光片
●系統:快拆卸準直器、濾光片系統
●材質:多種材質準直器
●光斑:光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可選
十字激光頭
●光斑形狀:十字線
●輸出波長:紅光650nm
●光學透鏡:玻璃透鏡
●尺寸:Φ10×30mm
●發散角度:0.1-2mrad
●工作電壓:DC 5V
●輸出功率:<5mW
●工作溫度:-10~50℃
X射線鍍層厚度分析儀其它配件
●開關電源:進口高性能開關電源
●散熱風扇:進口低噪聲、大風量風扇
● 外形尺寸:360 mm x 600mm x 385 mm (長x寬x高)
● 樣品倉尺寸:360mm×400mm x160(長x寬x高,高度可定制)
● 儀器重量:50kg
● 供電電源:AC220V/ 50Hz
● 功率:330W
● 工作溫度:15-30℃
● 相對濕度:≤85%,不結露
● 根據不同基體樣品,配備三種算法,增加樣品測試度。
● 配備開放式分析模型功能,客戶可自行建立自己的工作模型。
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