天瑞X射線熒光測厚儀THICK800A 

儀器軟件優勢:                                     儀器采用天瑞軟件研發團隊研發的能量色散X熒光FpThick軟件，的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作。譜圖區域采用動態模式，測試時元素觀察更直觀。軟件具有多種測試模式設置和無限數目模式自由添加，內置強度校正方法，可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。

天瑞X射線熒光測厚儀THICK800A 儀器參數規格
1   分析元素范圍：S-U2   同時可分析多達5層以上鍍層3   分析厚度檢出限達0.005μm4   多次測量重復性可達0.01μm5   定位精度：0.1mm6   測量時間：30s-300s7   計數率：1300-8000cps8   Z軸升降范圍：0-140mm9   X/Y平臺可移動行程：50mm(W)×50mm(D) 
性能特點1.滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求2.φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求，可以對同一鍍件不同部位測試厚度3.高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm4.采用高度定位激光，可自動定位測試高度5.定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊6.鼠標可控制移動平臺，鼠標的位置就是被測點7.高分辨率探頭使分析結果更加8.良好的射線屏蔽作用9.測試口高度敏感性傳感器保護
儀器介紹
Thick800A是天瑞儀器銷量的鍍層測厚儀；儀器采用上照式結構，測試，軟件界面簡潔，測試樣品用時40S，售后服務可靠及時。
鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法：1.光學顯微鏡法。適用標準為：GB/T6462-20052.X-ray法（X射線法）。適用標準為：GB/T16921-20053.庫侖法，此法一般為仲裁方法。適用標準為：GB/T4955-2005
測量標準1.國標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法2.美國標準A754/A754M-08Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
應用行業1.電子半導體行業接插件和觸點的厚度測量2.印刷線路板行業功能鍍層厚度測量3.貴金屬飾手表行業鍍層厚度測量4.五金電鍍行業各種防腐性、裝飾性及功能鍍層厚度測量
樣品測試流程： 測試實例鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行定位測試，其測試位置如圖。 結論實驗表明，使用Thick800A 儀器對鍍件膜厚測試，結果度高，速度快（幾十秒），其測試效果*可以和顯微鏡測試法媲美。 
質量1. 乙方對所出售本合同所規定的儀器進行終身維修；2. 軟件免費升級：如有軟件升級，乙方將免費提供軟件升級，不再收取升級費用；3. 保修條款3.1. 儀器設備自驗收合格之日起免費保修1年；3.2. 免費保修期內，維修相關費用全免；3.3. 保修期結束后，乙方為甲方提供維修服務的資費標準如下：交通費、住宿費由甲方承擔；資費標準：硬件成本費用——按乙方時價計算硬件運輸費——實報實銷服務費——300元 / 人 / 天人員交通費——實報實銷人員住宿費用——￥200元/天4. 技術服務的響應期限：提供*有效的技術服務，在接到用戶故障信息后，4小時內響應；如有必要，12～72個小時內派人上門維修和排除故障。  
質量措施 1.管理能力: 本司通過了ISO9001質量體系認證，公司各方面的管理都非常規范。2.技術開發能力：本司有獨立的研發部門，專門負責產品開發?，F有技術開發人員260名，其中職稱的有3人，技術研發力量非常雄厚。3.工藝技術能力：制造部配有5名工藝工程師，有專門的產品生產車間，從工藝及工裝上能*產品加工質量。4.品質控制系統：從原材料入庫、各工序加工直到成品包裝，每道關鍵環節均有檢測把關，確保每臺產品都是在檢驗合格后才能打包入庫。5.天瑞儀器公司員工擁有博士5人、碩士27人、本科283人、大專240人，獲職稱的有5人，強大的技術力量和管理能力能產品的質量。 
儀器故障的處理    儀器出現故障是難免的，遇到小的故障，用戶能解決就盡量自己解決，不能解決的，請記下故障的現象，速與廠家聯系，廠家負責維修。維修時，如果是拔插任意連接線，都要關計算機、顯示器、打印機、熒光分析儀主機、高壓電源等的電源，絕不可以帶電操作。下面將一些常見故障以及處理方法介紹如下：1、計算機電源開著，屏幕上不出任何東西。檢查順序：（1）顯示器是否開著？請開。           顯示器與計算