膜厚測試儀 Thick800A,天瑞儀器  

技術指標

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。

同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量一般為ppm到99.9% 。

鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）

任意多個可選擇的分析和識別模型。

相互獨立的基體效應校正模型。

多變量非線性回收程序

度適應范圍為15℃30℃。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

 膜厚測試儀 Thick800A,天瑞儀器  重量：90kg

廠家介紹

X熒光測厚儀生產生產廠家——江蘇天瑞儀器股份有限公司，新款Thick 8000X熒光測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型鍍層膜厚測試儀器。主要應用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定； 、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測。金屬鍍層分析儀俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、XRF鍍層測厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等，主要用于精密測量金屬電鍍層的厚度。功能：精密測量金屬電鍍層的厚度；應用范圍：測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成。

測量范圍從22(Ti)到92(U);5 層 (4 鍍層 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;元素光譜定性分析;測試方法符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987