光譜型膜厚測試儀：俗稱X熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀，電鍍層厚度分析儀，金屬鍍層測厚儀，電鍍厚度測量儀，電鍍厚度檢測儀，連續度檢測儀，光譜鍍層測厚儀，鍍層厚度分析儀，鍍層測量儀，電鍍層分析儀等；

功能：精密測量金屬電鍍層的厚度；

應用范圍

測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成

測量范圍從22(Ti)到92(U);5 層 (4 鍍層 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;元素光譜定性分析;測試方法符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987

應用群體主要集中在：電路板、端子連接器、LED、半導體、衛浴潔具、五金電鍍、珠寶飾、汽車配件、檢測機構以及研究所和高等院校等；

原理：X射線熒光什么是X射線?X射線存在于電磁波譜中的一個特定區域,它由原子內部電子躍遷產生,其波長范圍在0.1-100Å;能量大于100電子伏特.什么是X射線熒光?X射線熒光 是一個原子或分子吸收了特定能量的光子后釋放出較低能量的光子的過程

儀器介紹

光譜型膜厚測試儀

技術指標

型號：Thick 800A

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。

同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量一般為ppm到99.9% 。

鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）

任意多個可選擇的分析和識別模型。

相互獨立的基體效應校正模型。

多變量非線性回收程序

度適應范圍為15℃30℃。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

性能特點

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊

鼠標可控制移動平臺，鼠標的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護

標準配置

開放式樣品腔。

精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測器。

信號檢測電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳感器

保護傳感器

計算機及噴墨打印機

應用領域

，鉑，銀等貴金屬和各種飾的含量檢測.

金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。

主要用于貴金屬加工和飾加工行業；銀行，飾銷售和檢測機構；電鍍行業。

廠家介紹

西、陜西西北片區，青海片區、東北三省片區。另外，除中國大陸以外片區香港、中國臺灣及海外片區。公司通過電話等遠程維護、上門服務、返廠維修以及對客戶使用人員的技術培訓來實現技術的應到和維護。

產品包括X射線熒光測厚儀，X熒光鍍層測厚儀，x-ray膜厚儀，鍍金鍍銀測厚儀，ROHS檢測儀，直讀光譜儀，手持式光譜儀，ROHS檢測設備，手持式合金分析儀，氣相質譜儀，液相質譜儀，原子熒光光譜儀，電感耦合等離子光譜儀，手持式光譜儀，等離子體質譜儀， 鍍層膜厚測試儀，X熒光測厚儀，ROHS儀器，氣質聯用儀，液質聯用儀，ROHS鹵素檢測儀，x熒光光譜分析儀，手持式光譜分析儀，x射線熒光測厚儀，氣相色譜質譜聯用儀，液相質譜聯用儀，便攜式合金分析儀，ROHS測試儀，x-ray鍍層測厚儀，環保ROHS檢測儀

公司的X熒光檢測技術具有快速、、無損的特點。X熒光分析儀可以應用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的領域，如：電子電器（RoHS檢測）、珠寶飾（貴金屬及鍍層檢測）、玩具安全（EN71-3）、建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(鋼鐵、有色金屬)、石油（微量元素S、Pb等）、化工、地質采礦、商品檢驗、質量檢驗甚人體微量元素的檢驗等等。