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天瑞X熒光光譜分析儀產品介紹
天瑞新型X熒光貴金屬光譜分析儀EDX 3600繼承了天瑞儀器EDX系列的、快速、無損、直觀及環保五大特點,采用25mm2大面積鈹窗探測器,可無誤地分析出 、鉑金、銀等飾品中金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥的含量,測試結果*符合國標GB-1887《飾貴金屬純度的規定及命名方法》和GB/T-18043《貴金屬飾含量的無損檢測方法X射線熒光光譜法》的要求。
性能特點
三重安全保護模式
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
任意多個可選擇的分析和識別模型
高信噪比的電子線路單元
全元素測試X熒光分析軟件
與傳統儀器相比,新增加的抽真空系統,屏蔽空氣的影響,大幅擴展測試的版圖
采用世界上的SDD硅漂移探測器,分辨率139ev,更好的檢測鉑金中銥和金的含量
提供多種準直器,直徑小達0.2mm,輕松實現精小部位的測試
精選全球組件組件
真空腔
在分析低含量的輕元素時,必須使用真空泵設備把空氣抽出,使內部在真空狀態下對輕元素進行分析。
真空泵(選配)
極限真空:6×10-2 帕轉速:1400 轉/分 抽率:1 升/秒 功率:0.25 千瓦
技術指標
測量元素范圍:從鈉(Na)鈾(U)
測量對象狀態:粉末、固體、液體
同時分析元素:30種元素同時分析
元素含量分析范圍:1ppm-99.99%
能量分辨率為:140±5ev
測量時間:60s-200s(可調)
制冷方式:電制冷,無需任何耗材
環境溫度:10℃-30℃
環境濕度:35%-70%
輸入電壓:AC 110V/220V
管壓:5kV-50kV
管流:50μA-1000μA
樣品腔尺寸:334×500×80mm
外觀尺寸:670×533×855 mm
重量:80kg
標準配置
美國Amptek*SDD探測器
數字多道分析器
放大電路、高低壓電源、高效X光管
計算機、打印機、真空泵(選配)、穩壓電源(選配)
軟件:貴金屬分析軟件(標配)、鍍層分析軟件(選配)、有害元素分析軟件(選配)
天瑞X熒光光譜分析儀應用領域
、鉑金、銀等貴金屬的成分檢測。可廣泛應用于珠寶飾中輕元素的檢測。
分析元素:金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥、鈉、鎂、鋁、硅、磷、硫等
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