【x射線熒光測厚儀生產廠家】產品介紹

    Thick 8000 x射線熒光測厚儀（國產）是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器。主要應用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定； 、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測,廣泛應用于電子電器、五金工具、開關、等企業，天瑞儀器是，分析儀器企業，產品質量和售后服務。

性能優勢

采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位 精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
的圖像識別 
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現無縫防撞
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣 
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接全景或局部景圖像選取測試點 
軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結果

技術指標

分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U） 
同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9% 穩定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低135eV
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
采用的微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度 15℃～30℃

【x射線熒光測厚儀生產廠家】測試實例

在計數率的情況下能有效分辨相近元素，大大提高測試穩定性、降低檢測限。

11次測量結果（Au-Cu)的穩定性數據對比如下：