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行業(yè)產(chǎn)品
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XRF- X熒光光譜儀產(chǎn)品介紹
是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng),可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果,利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析,在冶煉過程控制中起到了測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外,在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。
性能特點
高效超薄窗X光管,指標達到水平
新的數(shù)字多道技術,讓測試更快,計數(shù)率達到100000CPS,精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器,良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性,較高的峰背比
天瑞儀器產(chǎn)品&mdash信噪比增強器(SNE),提高信號處理能力25倍以上
低能X射線激發(fā)待測元素,對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng),屏蔽空氣的影響,大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置了儀器工作的*性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片,免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解,使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法,使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)(管壓、管流、真空度)一目了然
技術參數(shù)
產(chǎn)品型號:EDX 4500H
產(chǎn)品名稱:X熒光光譜儀
測量元素范圍:從鈉(Na)到鈾(U)
元素含量分析范圍: ppm&mdash99.99(不同元素,分析范圍不同)
同時分析元素:一次性可測幾十種元素
分析精度:0.05 (含量高于96以上的樣品、21次測試穩(wěn)定性)
測量時間:30秒200秒
探測器能量分辨率為:145±5eV
管壓:5KV50KV
管流:50&muA1000&muA
測量對象狀態(tài):粉末、固體、液體
輸入電壓:AC 110V220V
環(huán)境溫度:15℃30℃
環(huán)境濕度:3570
樣品腔體積:320mm×100mm
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
重量:65Kg
標準配置XRF- X熒光光譜儀
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術
信噪比增強器 SNE
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
可靠的整體鋼架結構
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵
應用領域
XRF-X熒光光譜儀廣泛應用于合金檢測、全元素分析、有害元素檢測(RoHS、鹵素) 、鍍層檢測等行業(yè)。
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