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天瑞鹵素分析儀對于不同的電子材料,元件,板材等,業界主要還是各家公司自己的具體要求來執行。現在有兩種講法對于無鹵素,1.BSEN14582測試方法,這種根本測不出(<50ppm)的CI,Br;2. CI,Br含量各低于900ppm,總含量低于1500ppm。但JPCA沒有對總含量定義。有些公司定義的測試方法及測試樣品的選取都有不同,樣品數量太少的話,導致測試結果會有很大偏差。
天瑞鹵素分析儀各標準組織的測試方法如下,
BSEN14582 分方法A 氧彈燃燒法Oxygen Bomb combustion + 離子層析法(Ion chromatography) 方法B 氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法(Ion chromatography)
JPCA-ES-01-2003 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法(Ion chromatography)
IEC61189-2 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法(Ion chromatography)
IPC-TM-650 方法 2.3.41 方法為氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion + 離子層析法(Ion chromatography)
傳統只是對鹵化物有定義要求,采用鉻酸銀試紙,氟點測試等方法檢測只是對鹵化物的離子進行定性的測試方法,如果要定量的話還得用離子層析法(Ion chromatography)。
無鹵素與無鹵化物不是一個概念,鹵化物是以游離的鹵素離子存在,而鹵素則可以共價的方式形成含有鹵素的化合物,并且用離子層析法(Ion chromatography)是測不到游離的鹵素離子存在的。所以,目前的鹵素測試方法用氧彈燃燒法Oxygen Bomb combustion 或氧瓶燃燒法Oxygen flask combustion 的方法把待測樣品共價存在的鹵素破壞原先的結構,使其變為游離的離子形態的鹵素,可以被離子層析法(Ion chromatography) 檢測到。這樣不管以何種形式存在的鹵素都可以被檢測到。
以上為鹵素標準采用的測試方法;目前rohs測試主要是參考IEC62321文件來進行的,IEC62321文件里面列出了rohs里面各種元素的測試方法,及XRF在rohs中的作用,并且注明了XRF測試結果如何判定是否符合標準,目前電子電器行業對于Cl,Br的測試是參考IEC62321文件來進行的,判斷其結果是否符合標準也是按照此文件內的30%的偏差來判斷的。
鹵素分析儀廠家介紹
江蘇天瑞儀器股份有限公司是生產ROHS分析儀,氣相色譜質譜聯用儀,鍍層測厚儀,電感耦合等離子體發射光譜儀,ROHS分析儀,ROHS檢測儀,X射線鍍層測厚儀,氣相色譜儀,ROHS測量儀,液相色譜儀,ROHS2.0分析儀,XRF合金分析儀,X熒光光譜儀,汽油中硅含量檢測儀, ROHS檢測儀器,手持式合金分析儀等,涉及的儀器設備主要有EDX1800B,Thick800A,Thick8000,ICP2060T,GCMS6800,ICPMS2000等。
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