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探險者EXPLORER手持式X熒光分析儀   (手持式光譜儀)是天瑞儀器結合10年手持XRF技術研發經驗，集中了光電子、微電子、半導體和計算機等多項技術，研制出具有自主知識產權的一代手持XRF產品。EXPLORER 3000F手持式XRF 有害元素分析儀是天瑞儀器針對RoHS行業特別研發設計的手持檢測分析儀。儀器引入數字多道技術，使檢出限更低，穩定性更高，適用面更廣，性能媲美臺式機；小巧便攜的體積使檢測工作更簡單、更輕松。

探險者EXPLORER手持式X熒光分析儀  使用更方便、應用更廣泛。可用于電子元件與部件的材料生產；對電子零部件、原材料供應商進行第三方評估；對包裝材料進行測試與驗證；對各類電池進行有害物質測試與驗證；以及各種玩具、文具、兒童用品、禮品的測試；對大體積部件進行無阻擋、無限制空間測試；對精細部件定位，以排除干擾；對貴重物品進行無損檢測等。

在歐盟玩具指令頒布實施后，天瑞XRF系列產品迅速成為玩具生產商進行玩具安全檢測的有力保障。天瑞一代EXPLORER 3000F手持式XRF 有害元素分析儀使用更方便、應用更廣泛。可用于電子元件與部件的材料生產；對電子零部件、原材料供應商進行第三方評估；對包裝材料進行測試與驗證；對各類電池進行有害物質測試與驗證；以及各種玩具、文具、兒童用品、禮品的測試；對大體積部件進行無阻擋、無限制空間測試；對精細部件定位，以排除干擾；對貴重物品進行無損檢測等。
X熒光光譜儀是一種波長較短的電磁輻射，通常是指能t范圍在0.1^-100keV的光子。X射線光譜儀與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。X射線熒光光譜儀是由物質中的組成元素產生的特征輻射，通過側里和分析樣品產生的x射線熒光，即可獲知樣品中的元家組成，得到物質成分的定性和定量信息。
X熒光光譜儀優點
a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。
c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。
d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。
e) 分析精密度高。
f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。RoHS行業應用
性能特點
高效超薄窗X光管，指標達到較為水平
新的數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發待測元素，對Si、P等輕元素激發效果好
智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩譜裝置了儀器工作的*性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然
性能參數
產品名稱：X熒光光譜儀EXPLORER3000
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：60秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環境溫度：15℃-30℃
環境濕度：35%-70%

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