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X射線光譜分析儀EDX4500 性能參數(shù)
產(chǎn)品型號：EDX 4500
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：60秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35%-70%
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
X射線光譜分析儀EDX4500性能特點
高效超薄窗X光管，指標達到較為水平
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
天瑞儀器 產(chǎn)品—信噪比增強器（SNE），提高信號處理能力25倍以上
低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置了儀器工作的*性
高信噪比的電子線路單元
較新的數(shù)字多道技術，讓測試更快，計數(shù)率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然
X射線光譜分析儀標準配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術
信噪比增強器 SNE
鋼鐵行業(yè)測試配件
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
真空泵
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結構，力度可靠的
90mm×70mm的液晶屏
X射線光譜分析儀廠家優(yōu)勢
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