W5型全譜直讀光譜儀 可快速的對金屬材料樣品進行元素測定。光學系統(tǒng)采用CMOS檢測器,光譜范圍覆蓋全部典型材料。無論從低含量元素還是到高含量的元素,它都能準確、可靠的分析。公司在行業(yè)內(nèi)擁有光譜多年的生產(chǎn)經(jīng)驗積累,針對不同材料、不同要求,設(shè)計了這款全新的、更具性價比的全譜直讀光譜儀,可滿足金屬制造業(yè)、加工業(yè)及金屬冶煉用于質(zhì)量監(jiān)控、材料牌號識別、材料研究和開發(fā)的應用。
W5型全譜直讀光譜儀
儀器介紹
公司在直讀光譜儀行業(yè)擁有多年的制造和檢測經(jīng)驗,不斷研發(fā)與標準接軌的直讀光譜儀。運用黑科技及互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)推出一款全新的全譜直讀光譜儀OES W5。
W5型全譜直讀光譜儀可快速的對金屬材料樣品進行元素測定。光學系統(tǒng)采用CMOS檢測器,光譜范圍覆蓋全部典型材料。無論從低含量元素還是到高含量的元素,它都能準確、可靠的分析。公司在行業(yè)內(nèi)擁有光譜多年的生產(chǎn)經(jīng)驗積累,針對不同材料、不同要求,設(shè)計了這款全新的、更具性價比的全譜直讀光譜儀,可滿足金屬制造業(yè)、加工業(yè)及金屬冶煉用于質(zhì)量監(jiān)控、材料牌號識別、材料研究和開發(fā)的應用。
黑科技及互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的體現(xiàn)
黑科技一:性能*的光學系統(tǒng)
帕邢-龍格結(jié)構(gòu)凹面光柵,全譜覆蓋,滿足客戶對全元素檢測的需求。
直射式光學技術(shù)及采用MgF材料制作的光學器件,保證紫外區(qū)域的性能。
高分辯率多CMOS讀出系統(tǒng),更低的暗電流,更好的檢出限,更高的穩(wěn)定性,更強的靈敏度,滿足N的分析要求
黑科技二:智能數(shù)字激發(fā)光源
全數(shù)字化智能復合光源DDD技術(shù),帶來*分析性能。
緊湊的設(shè)計及半導體控制技術(shù),使得光源具有更好的穩(wěn)定性、更強的可靠性。
高能預燃技術(shù)(HEPS),激發(fā)參數(shù)調(diào)整,充分滿足不同基體、不同樣品以及不同分析元素的激發(fā)要求。
黑科技三:智能樣品激發(fā)臺設(shè)計
激發(fā)臺直接將激發(fā)光導入光學系統(tǒng)
開放式樣品臺,滿足大樣品測試要求。
變換電極可對小樣品及復雜幾何形狀樣品分析有更好的性能
視頻識別技術(shù),確保樣品臺激發(fā)安全,可監(jiān)測樣品臺的全景。
黑科技四:智能集成氣路模塊
智能氬氣流設(shè)計及粉塵收集清理裝置
*的氬氣噴射技術(shù),有效消除激發(fā)過程中等離子體的飄移,確保CCD檢測器能夠觀測高溫區(qū)域光信號,提高精度和穩(wěn)定性。
激發(fā)后,脈沖式氬氣吹掃,提高粉塵去除效果,提升儀器的短期和長期穩(wěn)定性。
黑科技五:智能真空測量和控制
真空系統(tǒng)*程控,在保證真空度的同時減少真空泵的運行時間,
雙級設(shè)置,在儀器不運行的情況下,開啟待機真空運行狀態(tài)。
多級真空隔離措施及增加濾油裝置,保障光學元器件在可靠的環(huán)境中工作。
黑科技六:透鏡清理裝置
不銹鋼真空球閥,在清理透鏡時有良好的隔離效果。
單板式透鏡設(shè)計,拆裝方便。
交叉機械裝置,在未解除隔離的情況有效保護光學系統(tǒng)。
黑科技七:計算機及讀出系統(tǒng)
計算機與手機(或PAD)可同步顯示,方便面板操作。
高分辯率多CMOS讀出系統(tǒng)及FPGA、DSP和ARM技術(shù),進行數(shù)據(jù)采集。
以太網(wǎng)和TCP/IP協(xié)議,數(shù)據(jù)傳輸高速、可靠。
數(shù)據(jù)可遠程傳輸,全面實現(xiàn)網(wǎng)絡化。實時方便對儀器運行狀態(tài)的監(jiān)測和控制。
數(shù)據(jù)可進行云打印。
黑科技八:的光譜分析軟件
光譜儀制作標準的光譜儀軟件,操作界面人性化,功能標準化。
儀器在軟件中配備多條工廠校正曲線及更多材質(zhì)分析方法和良好的解決方案。
可根據(jù)用戶的材料要求,可現(xiàn)場延長標準曲線的測量上、下限。
其它黑科技:
自動光路校準
低氬氣消耗
通用可調(diào)樣品適配器
基體擴展功能
標準化參數(shù)修改
控樣修正功能
更安全、更開放的便捷設(shè)計
結(jié)果實時顯示,可為用戶定制打印報告功能
軟件快速診斷
界面操作簡單
可靠的工廠校準功能